智能仪器测量与典型处理功能.pptVIP

智能仪器测量和典型处理功能;5.1 硬件故障的自检 5.2 自动测量功能 5.3 仪器测量精度的提高 5.4 干扰与数字滤波;第5章 智能仪器典型处理功能 ;5.1 硬件故障的自检;为什么要测试ROM和RAM，怎么测试呢？;ROM测试;RAM测试;5.1.1 自检方式;5.1.1 自检方式;5.1.2 自检算法;一、 ROM或EPROM的检测 ;二、 RAM的检测 ;三、 总线的自检 ;三、 总线的自检 ;四、 显示与键盘的检测 ;四、 显示与键盘的检测 ; 上述各自检项目一般应分别编成子程序，以便需要时调用。 设各段子程序的入口地址为TST i（I = 0，1???2…）， 对应的故障代号为TNUM（0，1，2…）。编程时， 由序号通过表所示的测试指针表（TSTPT）来寻找某一项自检子程序入口，若检测有故障发生，便显示其故障代号TNUM。;一个典型的含有自检在内的 智能仪器程序流程图 ; 5.2.1 自动量程转换 5.2.2 自动触发电平调节 5.2.3 自动零点调整 5.2.4 自动校准; 5.2.1 自动量程转换 ; 自动判别由最大量程开始，逐级比较，直至选出最合适量程。 本例各量程可使用同一个判断依据，即A/D转换的数据应落在3 999≥N≥399之间。 ;5.2