线圈元件的脉冲测试技术.docVIP

技术资料 No.线圈元件的脉冲测试技术 一．什么是线圈元件的脉冲测试 1．线圈脉冲测试原理 预先对储能电容 C1 充电，充电电压为仪器设定 得最大电压，以一极短暂的时间将开关 SW1 合上， SW1 合上器件，由于 C1≥ C2， C1 快速对 C2 充电，经过一段时间后 SW1 断开。 同时，该激励脉冲同时加于一被测线圈Lx ，C2、 Rp 、 Lx 将呈现一自由衰减震荡，该衰减震荡呈指数 下降趋势并调制以正弦信号。根据其与谐振电容 C2 的衰减振荡情况来了解线圈内部状态来判断该绕线 元件品质情况： 包含线圈自身的绝缘，绕线电感量， 图 1. 脉冲测试方案简述 及并联电容量等状态。 上图中： C1：储能电容 C2：谐振容量 线圈类产品（如变压器、电机等）由于绕线材料、磁性材料、骨架、加工工艺等因素的影响会产生线圈层间、 匝间及引脚间等绝缘性能的降低。 线圈的脉冲测试可在不损坏被测件的 条件下测试其电气性能。 这种测试方法能在短暂的瞬间判别线圈的品质。 测量时将与标准线圈测量时同样的脉冲通过电容器放电 施加于被测线圈，由于线圈电感量、杂散电容和 Q值的存在，将响应一个对应于该放电脉冲的电压衰减波形， 比较该衰减波形的某些特征，可以检测线圈匝间和层间短路及圈数和磁性材料的差异 , 如果施加一个高电压脉冲，根据出现的电晕或层间放电来判断绝缘不良。  Cp：线圈两端等效并联电容 R： 能量消耗等效并联电阻 Lx ：线圈等效电感 图 2 线圈的衰减震荡曲线 1 线圈元件的脉冲测试技术 技术资料 No.．脉冲测试方案简述 一般地，线圈脉冲测试有两种测试方案，即模拟式和数字式两种。 同惠提供模拟式的 TH2881 型匝间绝缘测试仪和数字式 TH2882 系列脉冲式线圈测试仪。 模拟式线圈脉冲测试仪： TH2881A 匝间绝缘测试仪。 该仪器的脉冲测试是一种传统测试方法，仪器提 供两个高压脉冲输出口 H1 和 H2 ，将被测线圈与标准 线圈同时测试， 在 CRT 上观察被测线圈的衰减谐振波 形与标准线圈波形的差异来判断被测线圈质量的优 劣。 图 3. TH2881A 型匝间绝缘测试仪 以下为 TH2881A 对线圈进行测试举例： 图 4. 正常波形 图 5 ．匝间绝缘不良 标准件与被测件的衰减振荡波形基本重合无显著差 被测件与标准件波形不符，表明被测绕组匝间绝缘 异，则被测绕组匝间绝缘无故障 有故障。显示故障波形时刻能伴有放电声，或可看 见放电火花和嗅到臭氧，显示波形呈现放电毛刺和 波形跳动。 图 6．断线波形 图 7 ．短路波形 被测件绕组断线，即开路，显示的波形呈一条弧 若被测件绕组完全短路，则显示的波形呈一条横线 线，有时会在断线处出现放电现象。 2 线圈元件的脉冲测试技术 技术资料 No.模拟式测试仪优缺点如下： 优点为： a. 观察波形比较直观； 操作方便； 缺点为 ： a. 受人为因素影响大，无法用数据来判别产品优劣； 需将标准件长时间加于测试端，会因标准件长时间承受高压而老化从而影响测试结果； c. 电感量小的被测件很难测量，一般适用于 1mH 以上的线圈产品，如各种电机等； d. 测试端长时间输出高压脉冲， 影响仪器寿命。 测试时每 20mS 输出一次脉冲， 以使 CRT 能得到稳定可视的波形； 小电感量测试时由于很短的屏幕显示时间，会使显示亮度大大降低而影响观察； 数字存储式线圈脉冲测试仪： TH2882-3/TH2882-5/TH2882S-3/TH2882S-5 该系列产品采用高速数字采样的 方法，将标准线圈的波形存储于仪器 中，测试时将被测波形与标准波形比 较，根据设定的判据（面积、面积差、 过零点、电晕等）以决定被测线圈的 优劣。该方法有如下优点： 高速数字取样使判别过 程由仪器自动完成，可排除人为影响因素； 图 8. TH2882 系列脉冲式线圈测试仪 测试时无需同时测量标准样件， 所有测试使用统一判据，标准样件波形可存储、调用、转存、多机共用等； 可测试电感量范围很宽，最小可测试10μH的线圈，基本适应各种线圈产品的测试； 高压是瞬间输出的，一次测试理论上只需输出一次高压脉冲，大大延长了仪器寿命。 不存在显示亮度问题，波形可选择在最佳状态下显示； 由于数字化和智能化技术的采用，可执行许多附加的分析功能，如时间与周期测量、电 压测量、多次平均、连续测试、输出电压的自动电平控制（ ALC ）、PASS/FAILL 的声音 模式选择等； 可采用多种形式的判据以分辨出被测线圈质量的细微变化，如面积、面积差、过零点、电晕等。 h. 使用多种接口于不同的目的。 如 USB 接口用于数据和标准波形的转存和保存， IEEE488 接口和 RS232 接口