网络分析仪的基本原理.docxVIP

一种独特的仪器 网络分析 仪是一种功能强大的仪器 , 正确使用时 , 可以达到极高的精度。 它 的应用也十分广泛 , 在很多行业都不可或缺 , 尤其在测量无线射频 (RF 元件和设 备的线性特性方面非常有用。 现代 网络分析 仪还可以应用于更具体的场合 , 例如 , 信号完整性和材料的测量。随着业界第一款 PXI 网络分析 仪— NI PXIe - 5630 的推出 , 你完全可以摆脱传统 网络分析 仪的高成本和大占地面积的束缚 , 轻松地 将 网络分析 仪应用于设计验证和产线测试。 网络分析 仪的发展 你可以使用图 1 所示的 NI PXIe-5630 矢量 网络分析 仪测量设备的幅度 ,相 位和阻抗。 由于 网络分析 仪是一种封闭的激励 -响应系统 , 你可以在测量 RF 特性 时实现绝佳的精度。 当然 , 充分理解 网络分析 仪的基本原理 , 对于你最大限度的 受益于 网络分析 仪非常重要。 在过去的十年中 , 矢量 网络分析 仪由于其较低的成本和高效的制造技术 , 流 行度超过了标量 网络分析 仪。虽然 网络分析 理论已经存在了数十年 ,但是直到 20 世纪 80 年代早期第一台现代独立台式分析仪才诞生。在此之前 , 网络分析 仪 身形庞大复杂 ,由众多仪器和外部器件组合而成 ,且功能受限。 NI PXIe-5630 的推出标志着网络分析 仪发展的又一个里程碑 , 它将矢量 网络分析 功能成功地赋 予了灵活 ,软件定义的 PXI 模块化仪器平台。 通常我们需要大量的测量实践 , 才能实现精确的幅值和相位参数测量 , 避免 重大错误。 由于射频仪器测量的不确定性 , 小的错误很可能会被忽略不计。 而 网 络分析 仪作为一种精密的仪器能够测量出极小的错误。 网络分析 理论 网络是一个被高频率使用的术语 ,有很多种现代的定义。就 网络分析 而言 , 网络指一组内部相互关联的电子元器件。 网络分析 仪的功能之一就是量化两个射 频元件间的阻抗不匹配 , 最大限度地提高功率效率和信号的完整性。 每当射频信 号由 一个元件进入另一个时 , 总会有一部分信号被反射 , 而另一部分被传输 , 类 似于图 2 所示。 这就好比光源发出的光射向某种光学器件 , 例如透镜。 其中 , 透镜就类似于 一 个电子网络。 根据透镜的属性 , 一部分光将反射回光源 , 而另一部分光被传输 过 去。 根据能量守恒定律 , 被反射的信号和传输信号的能量总和等于原信号或入 射信 号的能量。 在这个例子中 , 由于热量产生的损耗通常是微不足道的 , 所以忽 略不计。 我们可以定义参数反射系数 (G,它是一个包含幅值和相位的矢量 ,代表被 反射的光占总 (入射 光的比例。同样 ,定义传输系数 (T 代表传输的光占入射光 的矢量比。图 3 示意了这两个参数。 通过反射系数和传输系数 ,你可以更深入地了解被测器件 (DUT 的性能。回 顾光的类比 , 如果 DUT 是一面镜子 , 你会希望得到高反射系数。 如果 DUT 是一个 镜头 ,你会希望得到高传输系数。而太阳镜可能同时具有反射和透射特性。 电子网络的测量方式与测量光器件的方式类似。 网络分析 仪产生一个正弦信 ,通常是一个扫频信号。 DUT 响应时 ,会传输并且反射入射信号。传输和反射 信号的强度通常随着入射信号的频率发生变化。 DUT 对于入射信号的响应是 DUT 性能以及系统特性阻抗不连续性的表征。 例 如, 带通滤波器的带外具有很高的反射系数 , 带内则具有较高的传输系数。 如果 DUT 略微偏离特性阻抗则会造成阻抗失配 , 产生额外的非期望响应信号。 我们的目标是建立一个精确的测量方法 , 测量 DUT 响应 , 同时最大限度的减少或消除不 确定性。 网络分析 仪测量方法 反射系数 (G 和传输系数 (T 分别对应入射信号中反射信号和传输信号所占 的比例。图 3 示意了这两个向量。现代 网络分析 基于散射参数或 S-参数扩充了 这种思想。 S-参数是一种复杂的向量 , 它们代表了两个射频信号的比值。 S-参数包含幅 值和相位 ,在笛卡尔形式下表现为实和虚。 S-参数用 S 坐标系表示 , X 代表 DUT 被测量的输出端 , Y 代表入射 RF 信号激励的 DUT 输入端。图 4 示意了一个简单 的双端口器件 ,它可以表征为射频滤波器 ,衰减器或放大器。 S11定义为端口 1 反射的能量占端口 1 入射信号的比例 , S21 定义为传输到 DUT 端口 2 的能量占端口 1 入射信号的比例。参数 S11 和 S21 为前向 S-参数 , 这是因为入射信号来自端口 1 的射频源。对于从端口 2 入射信号 , S22 为端口 2 反射的能量占端口 2 入射信号的比例 , S12为传输到 DUT 端口