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第七节内容期末测试题
一、名词解释
1. 半导体材料只有通过一定方式进行掺杂形成 PN 结:常用的掺杂方
式有哪两种?
答:扩散和离子注入
2.解释“主动的扩散”
答:是指人为的在一个特定区域内, 通过杂质扩散的方式实现某种杂志分布,杂质源可以来自外界, 或者是内部已存在的杂质梯度分布 。
解释“被动的扩散”
答:是指由于工艺过程中的热开销造成的杂质再分布
4.解释“代位型杂质”
答:元素周期表中的位置与硅邻近的如:硼、铝、镓、铟等,它们在硅中有较高的溶解度,在硅晶格格点得位置。
解释“间歇性扩散”
答:是指杂质在硅晶体的间隙中移动
解释“代位式扩散”
答:是指杂质通过和硅或空位交换位置,来实现杂质扩散
解释“间隙杂质”
答:代位型杂质被处于间隙的硅原子所取代
解释“ Fick 扩散方程”
答:用来定量描述杂质在硅中的扩散行为
解释“恒定表面浓度扩散”
答:杂质原子由气态源提供并维持恒定的表面浓度
10.解释“恒定杂质总量扩散”
杂答:质通过某种形式预淀积在硅片表面, 在扩散过程中杂质总
量恒定不变
二、简答题
1、问:简述温度与扩散系数的关系
答:温度是影响扩散系数的最主要因素, D(扩散系数 )与 T 成指数关系,随着温度的升高,扩散系数急剧增大,扩散加剧。温度增高,原子振动能增加,借助于能量起伏而越过势垒进行迁移的原子几率越大;温度增高,金属内部的空位浓度提高,有利于扩散。
2、问 :简述杂质在硅晶体中的两种扩散机制。
答:(1)间隙式扩散指间隙式杂质从一个间隙位置运动到相邻的间隙
位置。间隙杂质在间隙位置上的势能相对极小, 它要运动到相邻的间
隙位置上,必须越过高度为 Wi=0.6~1.2eV 的势垒,这个能量可依靠
热涨落获得。
2)替位式扩散是指替位杂质从一个晶格位置运动到另一个晶格位置上。首先,替位杂质的近邻要有空位,形成一个空位所需能量为
Wv ;其次,替位杂质在晶格位置上相对势能最低,而间隙位置处的
势能最高,它要运动到近邻晶格上,必须越过高度为 Ws 的势垒。所
以,替位杂质要依靠热涨落获得大于 Wv+Ws 的能量才能进行扩散。
3、问:写出菲克第一定律和菲克第二定律的表达式。
答:菲克第一定律的表达式
J ( x,t ) D
dC(x, t)
dx
它揭示的含义为:杂质的扩散流密度 J 正比于杂质浓度梯度 ?C/?x ,正比于杂质在基体中的扩散系数 D(体现了温度 T 与扩散流密度 J 的
关系 )。
菲克第二定律也即扩散方程,其表达式为
C (x, t )
2C ( x, t )
t
D
2
x
针对不同边界条件求出该方程的解,可得出杂质浓度 C 的分布,即
C 与 x 、 t 的关系。
4、问:杂质的扩散需具备那些条件 ?
答:杂质的扩散在集成电路工艺中是一个很普通的现象, 其发生的必要条件是杂质分布存在着浓度梯度。 除此之外,杂质原子必须吸收一定的能量,推动其离开原来的平衡位置, 朝浓度梯度减小的方向运动。5、问:杂质扩散分为主动和被动两种情况, 请分别阐述着两种情况。答:杂质扩散分为主动和被动两种情况, 主动的杂质扩散是指人为地在一个特定区域内, 通过杂质扩散的方式实现某种杂质分布, 杂质源可以来自外界, 或者是内部已存在的杂质梯度分布; 被动的杂质扩散是指由于工艺过程中的热开销造成的杂质再分布。
三、论述题
Ic fabrication 产业发展至今已有 50 多年的历史,其发展史就是一个不
断创新的过程, 这种创新不光光是原始的创新, 更是技术创新和应用
创新等等,晶体管的发明并不是一个孤立的精心设计的实验, 而是一
系列固体物理、半导体物理、材料科学等取得重大突破后的必然结果,
请以你所学的知识说一说 ic fabrication 中包含有哪些知识和技术的应
用?
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