JF-QIGG-012超声波探伤仪期间核查规程D0.docxVIP

超声波探伤仪期间核查规程 （文件编号：  JF-QIGG-012  ） 共 4 页  第 1 页 版本 / 版次：D/ 0  生效日期：2016-01-01 1.总则 本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要 求，从而保证所用仪器处于合格状态。 2.校验步骤 2.1 水平线性的校验方法： 2.1.1 采用 CSK-ⅠA 型（或Ⅱ W 型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“ 0” 或“断”，其它调整取适当值（见图 2.1 ）。 2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等） ，以保持稳定的声耦合。调节 探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第 6 次底波。 2.1.3 当底波 B1 和 B6 的幅度分别为 50% 满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度 0和100 （设水平全刻度为 100 格）。 2.1.4 在依次分别将底波 B2 、B3 、B4 、B5 调到 50% 满刻度，并分别读出底波 B2 、B3、 B4、B5 的前沿与刻度 20 、40 、60 、80 的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则 为仪器的水平线性误差。 2.2 垂直线性的校验方法。 2.2.1 采用 CSK- ⅠA 型（或Ⅱ W 型）试块和一任意直探头， 探伤仪的抑制置于 “0” 或“断”， 其它调整取适当值（见图 2.2 ）。 2.2