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电子产品可靠性试验 7 ． 1 ．6 可靠性鉴定试验，可靠性定级试验和可靠性维持试验 可靠性鉴定试验分两类．一类为产品可靠性鉴定试验，一类为工艺 ( 含材料 ) 的可靠性鉴定试验． 产品可靠性鉴定试验一般是在新产品设计定型和生产定型时进行。目的是考核产品的指标是否全面达到了设计要求，考核产品是否达到了 预定的可靠性要求。试验的内容一般与质量一致性检验一致，既 A 、 B 、c 、D 四组试验都做，有抗辐射强度规定产品也做要 E 组试验。当产 品的设计、结构、材料或工艺有重大改变时也要做可靠性鉴定试验。 工艺 ( 含材料 ) 的可靠性鉴定试验用于考核生产线对材料和工艺的选择及控制能力是否能保证所制造的产品的质量和可靠性，是否能满足某 种质景保证等级的要求． 可靠性定级试验。有些产品有可靠性指标即失效串等级或平均无故障时间 (MTBF) 要求。为确定产品的失效率等级或平均无故障时间所做 的试验称可靠性定级试验．有可靠性指标产品的标准中都规定了可靠性定级试验的内容、抽样方法和试验判据等．为了证实产品已确定的失效 率等级的时间有效性，按规定的周期要做町靠性维持试验。环境试验、机械试验和电磁试验的主要内容与目的 ：‘’ 部分可靠性专著把样品置于自然或人工模拟的储存、 运输和工作环境中的试验统称为环境试验。 而一些主要的标准如美国的 MIL — STD 一 883 《微电路的试验方法和程序》和我国的 GJB548 《微电子器件试验方法和程序》将施加应力的试验分为环境试验、机械试验和电学试验。 奉节的环境试验主要是指旗加与气候条件、辐厢条件和生物条件有关的应力的试验；机械试验主要是指施加与力学应力有关的试验；电磁试验 主要介绍施加与电学应力有关的试验。 7 ．2 ．1 环境试验 首先介绍与气候条件有关的试验。 1. 稳定性烘培，即高温存储试验 该试验目的是考核在不施加电应力的情况下，高温存储对产品的影响。有严重缺陷的产品处于非平衡态，是一种不稳定态，由非平衡态向 平衡态的过渡过程既是诱发有严重缺陷产品失效的过程， 也是促使产品从非稳定态向稳定态的过渡过程。 这种过渡一般情况下是物理化学变化， 其速率遵循阿伦尼乌斯公式，随温度成指数增加．高温应力的目的是为了缩短这种变化的时间．所以该实验又可以视为一项稳定产品性能的工 艺。 试验条件；一般选定一恒定的温度应力和保持时间。微电路温度应力范围为 75 ℃至 400 ℃，试验时间为 24h 以上。试验前后被试样品要 在标准试验环境中，既温度为 25 土 10 ℃、气压为 86kPa~100kPa 的环境中放置一定时间。多数的情况下，要求试验后在规定 的时间内完成终点测试。 2 ．温度循环试验 该试验目的是考核产品承受一定温度变化速率的能力及对极端高温和极端低温环境的承受能力．是针对产品热机械性能设置的。当构成产 品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂 纹等。 试验条件；在气体环境下进行。主要是控制产品处于高温和低温时的温度和时间及高低温状态转换的速率。试验箱内气体的流通情况、温 度传感器的位置、夹具的热容量都是保证试验条件的重要因素。其控制原则是试验所要求的温度、时间和转换速率都是指被试产品，不是试验 的局部环境。微电路的转换时间要求不大于 1min 在高温或低温状态下的保持时间要求不小于 10min ；低温为 -55 ℃或 -65-10 ℃，高温从 85+10 ℃到 300+10 ℃不等， 3 ．热冲击试验 该试验目的是考核产品承受温度剧烈变化，即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效．热冲击试验 与温度循环试验的目的基本一致，但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。 试验条件：被试样品是置于液体中。主要是控制样品处于高温和低温状态的温度和时间及高低温状态转换的速率。试验箱内液体的流通情 况、温度传感器的位置、夹具的热容量都是保证试验条件的重要因素。其控制原则与温度循环试验一样，试验所要求的温度、时间和转换速率 都是指被试样品，不是试验的局部环境。微电路的转换时间要求不大于 lo ，：转换时被试样品要在 5