x射线分析在材料科学方面的利用.pdfVIP

个人收集整理 仅供参考学习 x 射线分析在材料科学方面的利用 刘世艳 23 背景： x 射线衍射方法其被广泛用于材料科学研究中，用于分析材料的晶体结构，晶体位错，材料 中的相分析，及各相含量的测定，还能用于材料宏观应力大小及方向的测定。故， 深入了解 x 射线衍射的机理及应用是材料学科学生的基本技能。 针对 x 射线衍射分析的机理并结合其 在相关专业方面的利用作如下报告。 个人收集整理 勿做商业用途 一： x 射线分析方法的基本原理 1.x 射线的产生 将阳极靶和阴极密封在玻璃金属管内， 阴极通电加热， 在阴极和阳极之间产生几千伏的高压， 阴极的电子在高压下冲撞阳极靶产生 x 射线。主要利用阳极靶的特征谱与物质的作用。 个人 收集整理 勿做商业用途 2.X 射线与物质的作用， （1）真吸收（俄歇效应和荧光效应，热效应）真吸收可利用与滤波。 （2 ）x 射线的散射，分为相干散射、不想干散射，相干散射是 x 射线衍射的基础，不相干散 射产生的光影是想干散射后的背景。 个人收集整理 勿做商业用途 3.x 衍射的方向， 由布拉格方程在能产生 X 衍射的方向及晶格间距和 X 射线波长应满足 2d sin ， 4.x 射线衍射的方法 （1）劳挨法；晶体周转法；粉末法（最常用的方法） 5.X 射线衍射强度 X 射线衍射的强度与晶体结构因数、 洛伦兹因数、 多重性因数、 吸收因数、 温度因数等有关。 6.x 射线衍射仪的组成 （1)X 射线衍射仪由 x 射线发生器，测角仪，辐射探测器，记录单元和自动控制单元等部分 组成，其中测角仪是其中心部分。 个人收集整理 勿做商业用途 其衍射试样为平板试样；在测定中，试样和测角仪转到的角度满足 1:2；且只有平行于自由 表面的且满足布拉格方程的晶面才会发生衍射。 个人收集整理 勿做商业用途 (2) 计数器的工作原理为进入计数管的射线是惰性气体电离产生的高速电子再次使气体电离 出现雪崩反应， 在短时间内产生的大量电子涌向阳极将出现一个可以探测到的电流， 计数器 输出的电压脉冲在脉冲高度分析器和定标器的作用后由打印机将结果输出。 个人收集整理 勿做 商业用途 (3) X 衍射仪的常规测量：连续扫描用于全谱测量时；步进扫描用于精确测定衍射峰的积分 强度位置或提供线性分析的数据。 个人收集整理 勿做商业用途 二、相关实验设计 在焊接件里， 因为焊接时温度的差异难免引起被焊接金属的晶粒大小发生变化以及因为晶体 中的晶格畸变而在晶粒内部出现应力， 这将对试样的性能产生严重影响。 观测试样晶粒大小 和测定晶格畸变是很重要的。 下面设计实验， 并结合查阅文献及相关软件用 x 射线衍射方法 对晶体晶粒大小和晶格畸变的测定。 本实验设计主要是查阅相关文献得出， 实验中的步骤尚 未亲自操作。 个人收集整理 勿做商业用途 实验报告设计 一、实验目的与要求 1．学习用 X 射线衍射峰宽化测定微晶大小与晶格畸变的原理和方法。 1 / 3 个人收集整理 仅供参考学习 2 ．掌握使用 X 射线衍射分析软件进行晶粒大小和晶格畸变测定。 二、实验原理 X 射线衍射峰的宽化主要有三个因素造成的：仪器宽化（本征宽化），晶块细化和微