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微波暗室静区性能 测试方法 2008 年 1 月 微波暗室静区性能 测试方法 拟 制 审 核 会 签 1 概述 微波暗室用于天线测量。作为室内测量，微波暗室应能把发射天线直接辐射到接收天 线主波束区以外的射频能量,尽可能地吸收或改变其反射方向，使之不进入接收天线的主 波束区，即在接收天线所在区域内提供近似无反射的静区。 2 测试项目 2.1 静区反射电平 2.2 交叉极化 5.3 场幅均匀性 5.4 多路径损耗 3 测试方法 3.1 行程线及其命名 接收天线沿某线移动采集信号电平数据，该线称为行程线。为了便于区别接收天线在 不同频率、不同行程线、不同指向角（方位θ）时的采集结果，特作如下命名： XX XXX ． X 表示测试频率 表示接收喇叭方位角θ的度数 测量行程线 0 例如：ox090．3 表示测量频率为 3GHz，接收喇叭方位角 θ=90 ，自O 点沿 OX 行程线 移至 X 点。 3.2 静区测试方法 静区性能的核心指标是反射电平，其它指标本质上均于反射电平有关。静区反射电平 可以采用自由空间电压驻波比法来测量。 微波暗室是一个模拟的“自由空间”，由于暗室内壁吸波材料吸收电磁波不完全，对 于入射到它上面的电磁波始终存在着大小不同的反射，这些反射随空间位置的不同而不同， 它们与直射波矢量迭加后就形成了自由空间电压驻波，其数量大小就反映了暗室空间反射 电平的大小。 设 E 为来自源天线的直射波场强，E 为等效反射波场强，它与轴线夹角为 θ。令接 d r 收天线方向图在 θ方向的电平为 A （dB），则接收天线方向图最大值旋转到 θ方向时，它 在直射波方向收到的场强 E 将为 d’ http：// 1 E E ×10A/20 d’= d 设直射波 E 和反射波 E 同相和反相时检测到的场强最大值和最小值分别 B （dB） d’ r 和 C （dB）来表示，则可分下列三种情况讨论： 1) E ＜ E 时 r d’ B= 20l (E +E )/ E =20l (E 10A/20+E )/ E 10A/20 g d’ r d’ g d r d C= 20l (E -E )/ E =20l (E 10A/20-E )/ E 10A/20 g d’ r d’ g d r d 则暗室反射电平Γ为 Γ= 20l (E /E )=A+20l [(10(B-C)/20-1)/(10(B-C)/20+1)] g r d g 2) E =E 时 r d’ Γ=A 3) E ＞E 时 r