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微电子器件与IC设计;第 3 章 双极型晶体管;3.1 晶体管的基本结构及杂质分布;3.1 晶体管的基本结构及杂质分布;;;3.1 晶体管的基本结构及杂质分布;; NPN晶体管的几种组态;;各区少子分布;NPN晶体管的电流转换;3.2.2、发射效率及基区输运系数;;;
1.共基极直流电流放大系数
2.共射极直流电流放大系数
;;
晶体管放大三要素:;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3.1 均匀基区晶体管的电流增益
均匀基区晶体管直流电流增益推导思路
A、对发射区、基区、集电区分别建立扩散方程
B、利用波??兹曼分布关系建立边界条件
C、解扩散方程得到各区少子分布函数
D、利用少子分布函数求出各区电流密度分布函数
E、由电流密度分布函数得到jne , jnc , jpe 。
F、求出发射效率和输运系数
G、得到共基极和共射极电流放大系数;;坐标:;一、少数载流子分布
(1)基区“少子”电子密度分布;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;;;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;;3.3 晶体管的直流电流增益;;;3.3 晶体管的直流电流增益;;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;3.3 晶体管的直流电流增益;;2. 发射区重掺杂效应对电流放大系数的影响;2)俄歇复合;;表面复合对基区输运系数的影响可表示为;
共射极输出特性曲线上 VBC =0 点的切线与 VCE 轴负方向交于一点,该点电压称为Early电压,
;3.4 晶体管的特性参数;3.4.2 晶体管的反向电流;二、反向电流的来源
实际的晶体管反向电流应包括反向扩散电流,势垒产生电流和表面漏电流。
对Ge管:主要是反向扩散电流
对Si管:主要是势垒产生电流,表面电流视工艺而定
;3.4.3 晶体管的击穿电压; 3.4.4 基极电阻;;3.4.5 晶体管的频率特性参数;3.5 双极晶体管直流伏安特性
3.5.1 均匀基区晶体管直流伏安特性;58;于是得到发射极电流;集电极电流;61;以上各式说明双极晶体管的端电流与其电压具有指数关系,与PN结的直流伏安特性相似;
但是,晶体管是由两个相距很近的PN结构成,其端电流应与二结的结电流有关,上式也反映了晶体管的直流特性和单个PN结的直流伏安特性有不同,两个结之间存在相互影响。;输入特性曲线;输出特性曲线;;;3.5.2 Ebers-Moll 模型;1. E-M 方程;1. E-M 方程;同理,对倒向晶体管;由图;代入式(3.5.6)、(3.5.10)得E-M方程;对照式(3.5.1)、 (3.5.2)得E-M方程互易定理;2. EM1模型;
;对 有;上述二式均可等效为一个电流源与一个二极管并联,如下图所示;一、晶体管的工作状态
晶体管的工作状态完全由直流偏置情况决定,如图可分为三个区。当晶体管处于倒向运用状态时,也同样存在以上三个区,但截止区和饱和区是一样的。只注意反向放大区即可。;各工作区中结的偏置情况和电流关系;;小结:饱和态晶体管的特点:;
在放大电路中,晶体管作为放大元件;但在逻辑电路中,晶体管是作为开关元件的。
;三、正向压降和饱和压降;四、晶体管的开关过程;1、延迟过程
2、上升过程
3、贮存过程
4、下降过程;;3.7 小结:BJT的特点;输入电容由扩散电容决定;缺点:
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