检测设备校准规程.pdf

xxxxxxx 有限公司 检验设备校准规程 编号/ 版号： XXX-QEW-SC-17 页 数：4 生效 日期：2011.03.01 拟 制：xxx 日期：2011.03.1 审 核：xxx 日期：2011.03.1 批 准：xxx 日期：2011.03.1 受控状态： 受控 分 发 号：4 ＃ 会 签 栏 部 门 签 字 部 门 签 字 部 门 签 字 更 改 记 录 现行修订状态 更改类型 数量 / 页次 更改单号 更改人 更改日期 一、游标卡尺内部校准规程 1. 目的 对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。 2. 范围 适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。 3. 校验基准 外校合格的量块。 4. 环境条件 室温 5. 校验步骤 5.1 检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，带表卡尺表头 的指针是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、 平滑。 5.2 调校零位，或使指针对准零点。 5.3 取 2～3 块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。每块 连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记 录在《检测设备校验记录表》内。允许误差范围根据不同卡尺的精 度分为± 0.01mm、 ±0.02mm。 5.4 测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块 量块成“ H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两 基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。测量值与标准值根据 不同卡尺的精度分为± 0.01mm、 ±0.02mm，将其平均值记录在《检 测设备校验记录表》中。 5.5 可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准； 5.6 历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格； 6. 校准周期 每年一次 7. 相关记录 《检测设备校验记录表》 二、千分尺内部校验规程 1. 目的 对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。 2. 范围 适用于千分尺的内部校准。 3. 校验基准 外校合格的标准量块。 4. 环境条件 室温 5. 校验步骤 5.1 检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹 , 度是否清晰。 5.2 扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。 5.3 根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块 3～4 块，（可对标准量 块进行组合测量）。每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允 许误差范围内，将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内。允 许误差范围为± 0.01mm。 5.4 外径千分尺的校验：任意取 5-6 块标准量块，取两块量块（构成测量 的基准面）夹紧一块量块成“ H”型，扭动螺栓使外径千分尺的测量 端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，每次测量值均应 在允许误差范围内。将其平均值记录在《检测设备校验记录表