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思考题、习题和参考文献 第1章 材料是如何分类的？材料的结构层次有哪些？ 材料研究的主要任务和对象是什么，有哪些相应的研究方法？ 材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？ 第2章 区分晶体的颜色、多色性及吸收性，为何非均质体矿物晶体具有多色性？ 什么是贝克线？其移动规律如何？有什么作用？ 什么是晶体的糙面、突起、闪突起？决定晶体糙面和突起等级的因索是什么？ 什么叫干涉色？影响晶体干涉色的因素有哪些？ 白云母的三个主折射率为Ng= 1.588, Nm=1.582, Np= 1.552,如要制造干涉色为1/4 X （147nm）的试板，在垂直于Ng切面上的切片厚度应为多少？ 平行金红石（四方）（100）晶面取一薄片，在折射率仪屮测得C轴方向为2.616, 垂直C轴方向为2.832；试绘出其光率体，并写出最大双折射率及其光性正负。 平行莫来石（斜方）斜方柱面（110）取一切面测得该晶体最大折射率为1.654,垂 直斜方柱面另取一切面（001）面测得其折射率变化在1.644-1.642之］可。已知光轴 W/（010）,试绘出其光率体并写出最大双折射率、光性符号、光性方位。 普通辉石为正光性晶体，在正交偏光下其最高干涉色为二级黄（R = 880mn ）,丄 Bxa切面具有一级亮灰T涉色（R = 210mii）,设Ng-Nm=0.019,求薄片厚度。 设橄榄石晶体薄片厚度0.03mm, Ng= 1.689, Nm= 1.670, Np= 1.654,问：垂直Bxa切 面、垂直Bxo切面和平行光轴面切面上的光程差是多少？ 如何利用锥光镜鉴定晶体的光性和轴性？ 如何提高光学显微分析的分辨能力？ 阐述光学显微分析用光片制备方法。 分析近场光学显微分析的原理及与传统光学显微分析技术的界同。 为何近场光学显微镜可突破光学显微镜分辨率极限? 参考文献 邵国有编，硅酸盐岩相学。武汉：武汉工业大学出版社，1991 武汉工业大学、东南大学、同济大学等，物相分析。武汉：武汉工业大学出版社, 1993 陈宗简、李良徳、阮志成编，金相显微镜。北京：机械工业出版社，1982 舍英、伊力奇、呼和巴特尔编，现代光学显微镜。北京：科学出版社，1997 孙业英、陈南平编，光学显微分析。北京：清华大学岀版社，1997 张树霖编，近场光学显微镜及其应用。北京：科学出版社，2000 第3章 X射线的定义、性质。连续X射线和特征X射线的产生、特点。 X射线与物质的相互作用。 X射线衍射原理。布拉格方程和劳厄方程的物理意义。 X射线衍射实验方法。粉末衍射仪的工作方式、工作原理。 X射线粉末衍射法物相定性分析过程及注意的问题。 X射线粉末衍射仪法物相定量分析方法及其过程。 X射线粉末多晶衍射仪法测定物质晶体结构与单晶衍射法测定物质晶体结构的比 较。 简述现代材料研究的X射线实验方法在材料研究屮有那些主耍应用。 试推导Bragg方程，并对方程小的主要参数的范围确定进行讨论。 X射线衍射试验主要有那些方法，他们各有那些应用。 如何提高显微镜分辨本领，电子透镜的分辨本领受哪些条件的限制？ 透射屯子显微镜的成像原理是什么，为什么必须小孔径成像？ 简述扫描电子显微镜的工作原理。 相对光学显微镜和透射电子显微镜、扫描电镜各有哪些优点？ 电子探针X射线显微分析仪有哪些工作模式，能谱仪和谱仪的特点是什么？ 为什么透射电镜的样品要求非常薄，而扫描电镜无此要求？ 电镜有哪些性质，环境扫描电镜中“环境”指什么？ 高分辨电镜是否指分辨率高的电镜？ 选用电子显微分析仪吋应从哪几方面考虑？ 电子探针仪与X射线谱仪从工作原理和应用上有哪些区别？ 与X射线衍射相比，（尤其透射电镜屮的）电子衍射的特点是什么？ 选区电子衍射和选区成像的工作原理是什么，这两种工作方式有什么应用意义? 第5章 简述差热分析的原理，并画出DTA装置示意图。 为何用外延始点作为DTA曲线的反应起始温度？ 热分析用的参比物有何性能要求？ 影响差热分析的仪器、试样、操作因素是什么？ 为何DTA仅能进行定性和半定量分析？ DSC是如何实现定量分析的? 20?阐述DSC技术的原理和特点。 简述DTA、DSC分析样品要求和结果分析方法。 简述热重分析的特点和影响因素。 举例说明热分析技术在玻璃和微晶玻璃材料研究屮的应用。 简述热分析技术在高分子材料研究屮的应用。 参考文献 武汉工业大学、东南大学、同济大学等：物相分析。武汉：武汉工业大学出版社, 1994 邵国有编：硅酸盐岩相学。武汉：武汉工业大学出版社，1991 吴刚编：材料结构表征及应用。北京：化学工业出版社，2002 蔡正千编：热分析。北京：高等教育出版社，1993 吴人洁编：现代分析技术■在高聚物屮的应用。上海：上海科学技术出版社，1987 1 ? 了解各种波长的电磁波对原子（基