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《材料分析测试技术》试卷（答案） 一、 分，每空一分）20 （填空题： 构成八 阴极 v和 窗口射线管主要由1?X 阳极 光电效应、透射X射线2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、 热 。和 和偏装三种。3?德拜照相法中的底 片安装方法有：正装、反装 分析两种； 测钢中残余奥分析和定量4. X射线物相分析方法分：定性 氏体的直接比较法就属于其中的 分析方法。定量 两因素影响。 像差5.透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 来揭取第二相微小颗粒进行分析。萃取复型6. 今天复型技术主要应用于 成分分析仪器。7.电子探针包括 波谱仪 和能谱仪 背散射电子。扫描电子显微镜常用的信号是二次电子 和 分，每题一分）二、8 （选择题： ）。射线衍射方法中最常用的方法是（1?X b .周转晶体法。.劳厄法；ab.粉末多晶法；CX2?已知光管是铜靶，应选择的 滤波片材料是（b ）。。； c?Feb. Ni a. Co ； ）。3. X射线物相定性分析 方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c b.;芬克无机数值索引；c.戴维无机字母索引。a.哈氏无机数值索引 ）。b4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ ；a.第二聚光镜光阑b.物镜光阑选区光阑。；c. o 5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（b ） b. a.球差；像散； 色差。c. 。）a可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（6. a.高阶劳厄斑点；b.超结构斑点；c.二次衍射斑点。 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的 信号是（b ）o a背散射电子；b.俄歇电子；c.特征X射线。 中心暗场像的成像操作方法是（c ）。 a.以物镜光栏套住透射斑；b.以物镜光栏套住衍射斑；c.将衍射斑移至中心 并以物镜光栏套住透射斑。 三、分）8分，每题24 （问答题： X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么1. 射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小答：X之间； 其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一适中，在1 um-5um个最佳厚度（t 分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些它有哪些功能在材料2.科学中 有什么应用 四、分20证明题： 1 ?证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。 将试样放在（厄瓦尔德球），以入射X射线的波长入的倒数为半径作一球若任一 倒易处，球心0入射线经试样与球相交于0*；为倒易原点，以0*G对应的晶面 满足衍射条件产生衍射。落在厄瓦尔德球面上，则点G ?，衍k,衍射方向矢量为k = 1/k证明：如图，令入射方向矢量为（入）入。即 2.作图并证明公式：Rd二L入。 作图：以1/入为半径作厄瓦尔德球面，入射线经试样0与厄瓦尔德球面点；衍 射线与厄瓦尔德球面交于G与荧光屏交于0点，与荧交于0*点…二L。，A二R0 00*G 0 0 是倒易矢量g, 0点。光屏交于A. ° ???透射电子显微镜的孔径半角很小（2-3/.可近似认为g//R .A 空 Z0 0 有ZOO*GOO*/L = g/R 将00*=1/X, g = 1/d代入上式 得:Rd-L X R. 0 五、综合题：（28分） U （Ni的Ni线的强度衰减为使1. Cu1/2,需要多厚的滤波片。心-3）。 （10=cm 分）g . p 二genu 如 解：根据强度衰减公式I = leo?1/2 = X = In2/* = 2.分析电子衍射与X射线衍射有何异同（8分） 答：电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）布拉格方程作 为产生衍射的必要条件。 首先，电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射.rado 而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近口角8很小，约为10/2o 其次，在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度 方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会，结果使略 微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。 第三，因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍 射角e较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为 电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。这个结果使晶体产生 的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向，给分析带来不少方便。 最后，原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数, 故电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时暴光时间仅需数秒钟。量级）