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非接触 IC 卡芯片的低成本测试 摘要：随着  RFID 技术和规范的不断成熟，我国的第二代身份证卡上开始使用基于  RFID 技术的非接触 IC  卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题，本文介绍了一种非接触  IC  卡芯片低成本测试 的解决方案。 与普通的测试方法要求  IC 测试仪 (ATE) 有比较昂贵的混合信号测试部件来发送／识别  RP信号 相比，该解决方案只需要  ATE有一般的数字电路的测试功能，  结合  RFID 应用模块， 就可以在保证测试精度 和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低 ATE本身的硬件成本，测试时间 很短，并且有很好的灵活性。 1．非接触 IC 卡的种类及国际标准 根据读卡机与 IC 卡的作用距离，可以将非接触 IC 二代身份证卡使用的是近距离通讯型， 即符合 IS014443 大约是 10-15cm 左右，典型的工作频率是 13． 56MHz。  卡分成以下四类 ( 见图 1-1) ，其中第 的非接触 IC 卡，它的有效作用距离 ISO14443 又包含 A，B，C 三种类型 ( 其中 C 型未定 ) 。表 1-1 对 A 型和 B 型从读卡机到 IC 卡 和 IC 卡到读卡机两方面对 A 型和 B 型做了比较。 第二代身份证卡使用的是 B 型的非接触 IC 卡芯片，读卡机对卡