面向芯片设计的测试新理念.pdfVIP

面向芯片设计的测试新理念 爱德万测试（苏州有限公司）上海分公司 李金铁 刘旸 摘要：SoC 芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显，传统的测试概念已经不适用现 在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个的问题，列举在集成电路测试中面临的 问题，引出一种面向芯片设计的新的测试理念，并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案， 分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。 关键词：面向芯片设计的测试，EDA-Linkage ，快速响应市场，提升新产品品质 2 ． 集成电路测试面临的问题 1．集成电路测试定位 2.1 测试本身面对的问题 传统的对集成电路测试的理解和定位， 首先，集成电路的发展给测试本身带来