教学课件 数字电子技术（第二版）--杨翠峰.ppt

当单元RAM不能满足存储容量的要求时，这时可把多个单片RAM进行组合，扩展成大容量的存储器。 一、RAM的位扩展 当利用单片RAM的位数不够时，就要进行位扩展。位扩展就是把n片相同RAM的地址并接在一起，让它们共用地址码，各片的片选线 二、RAM的字扩展 当利用单片的RAM的字数不够时，就要进行字扩展。字扩展就是把n片相同RAM的数据线并接在一起作为共用输入/输出端（即位不变），读/写控制线也接在一起，把地址线加以扩展，用扩展的地址线去控制各片RAM的片选线。 三、RAM的位线和字线同时扩展当RAM的位线和字线都需要扩展时，一般是先进行位扩展，然后再进行字扩展。 8.2.5 RAM的扩展 8.3 其他存储设备 一、闪存只读存储器——Flash ROM 二、U盘 PLD器件连接的习惯画法： PLD按编程部位分为四类： 8.4 可编程逻辑器件PLD 试用AD7524构成CPU多路D/A输出接口电路。进行D/A转换时，首先由CPU输出地址码，经8205译码，选中一片AD7524，此时CPU输出 = 0，由CPU同时输出的8路数据AD0~AD7，经数据总线DB送入所选中的AD7524，完成D/A转换。 AD7524构成多路输出 1.增益可编程放大器 图中，输入模拟电压接到AD7524的基准电压端，则构成电压放大电路，它的电压放大倍数Au = uO / ui，由数码输入端d7~d0的值决定，故构成增益可编程放大器。 二、AD7524的应用 2.波形发生器 如图所示，74LS161中的Q3、Q2、Q1、Q0分别与AD7524的数码输入端d7、d6、d5、d4连接。故输出模拟电压的值也发生周期性的变化，构成波形发生器。 测试ADC中使用了DAC，用于将ADC输出转换回模拟形式，并和模拟输入进行比较。 测试采用的输入信号通常是斜坡信号。将该信号加到ADC的输入端，再将所得的二进制输出序列输入到DAC测试单元，转换为阶梯状斜坡信号。再将输入和输出进行比较，检查是否有明显偏差。 7.6 A/D转换器的应用 7.6.1 A/D转换器功能测试 ADC0809是常见的集成ADC。它是采用CMOS工艺制成的8位八通道单片A/D转换器，属于逐次逼近型ADC，适用于分辨率较高而转换速度适中的场合。 一、ADC0809 ADC0808/0809引脚排列与结构框图 各引脚的名称及功能如下：IN0~IN7：8路单端模拟输入电压的输入端。UREF+、UREF-：基准电压的正、负极输入端。输入基准电压，其中心点应在附近，偏差不应超过0.1V。START：启动脉冲信号输入端。当需启动A/D转换过程时，在此端加一个正脉冲，脉冲的上升沿将所有的内部寄存器清零，下降沿时开始A/D转换过程。A、B、C：模拟输入通道的地址选择线。ALE：地址锁存允许信号，高电平有效。当ALE=1，将地址信号有效锁存，并经译码器选中其中的一个通道。  CP：时钟脉冲输入端(或CLK：时钟输入)。D7~D0：转换器的数码输出线，D7为高位，D0为低位。OE：输出允许信号，高电平有效。在START信号上升沿之后1~8个时钟周期内，EOC信号输出变为低电平，标志转换器正在进行转换，当转换结束，所得数据可以读出时，EOC变为高电平，作为通知接受数据的设备取用该数据的信号。EOC：转换周期结束标志输出。 按图接线，在ADC0809的D7~D0、EOC分别接发光二极管，A、B、C接逻辑开关，IN0接不同的电压，CP接频率大于1kHz的时钟脉冲，START、ALE接单次脉冲。 先将A、B、C设定为000，然后按一次START、ALE单次脉冲，IN0输入端的数据被送入，转换开始。读输出并记录结果。同理，A、B、C依次设定为001~111，记录结果。 二、静态测试 把频率为1kHz、幅度为5V的方波信号直接接到输入端，观察输出的变化。 把频率为1kHz、幅值为5V的方波信号直接输入IN0，A、B、C设置为000，然后按一次START、ALE单次脉冲，IN0输入端的数据被送入，转换开始。观察发光二极管的输出变化。 问题与讨论： 1.比较理论值与实际值之间的误差，并分析原因。 2.若模拟电压输入大于5V，电路应如何连接？ 三、动态测试  参考电路如图所示。检查电路连接无误后，接通电源。按表输入电压uIN0，将对应D7~D0状态填入表中，并与理论计算值比较。 7.6.2 A/D转换器的应用 一、ADC测试 测试电路的输入模拟电压由电源电压通过分压得到。