纯电动乘用车控制芯片典型失效模式示例、故障注入方法示例.pdfVIP

T/CSAEXX－20XX 附 录 A （资料性） 控制芯片典型失效模式示例 A.1 控制芯片内部主要元器件示例 A.1.1 计算功能相关主要元器件 与控制芯片计算功能相关的主要元器件包括（但不限于）中央处理器CPU，片上存储器（包括SRAM， PFlash，DFlash等），电源模块（如LDO，DC/DC），时钟模块，内部总线等。 A.1.2 输入功能相关主要元器件 与控制芯片输入功能相关的主要元器件包括（但不限于）模数转换器ADC，数字I/O输入（如GPIO）， 传感器接口（如SENT），与外部通信接口（如CAN）等。 A.1.3 输出功能相关主要元器件 与控制芯片输出功能相关的主要元器件包括（但不限于）数模转换器DAC，数字I/O输出（如GPIO）， 安全状态支持模块，与外部通信接口（如CAN）等。 A.2 控制芯片典型失效模式示例 结合A.2中所列与计算功能，输入功能和输出功能相关的主要元器件，控制芯片元器件典型失效模 式示例如下表所示。 注：可以根据功能安全要求从表A.1所列典型失效模式中选取违背安全要求的元器件失效模式使用。 表A.1 控制芯片元器件典型失效模式示例 控制芯片功能 主要相关元器件 典型失效模式 CPU_FM1：给定指令流未执行 （完全遗漏）； CPU_FM2：非预期指令流被执行（误起动）； 中央处理器 CPU CPU_FM3：指令流执行时间错误（过早/过晚）； CPU_FM4：指令流结果不正确 SRAM_FM1：卡滞； SRAM_FM2：软错误模型（例如单比特位翻转，多比特 位翻转等）； SRAM SRAM_FM3：其他故障模型（例如卡滞开路故障、寻址 故障、寻址延迟故障、转换故障、邻域模式敏感故障、 计算功能 感应晶体管缺陷） PFLASH_FM1：卡滞； PFLASH_FM2：其他故障模型（例如卡滞开路故障、寻 PFlash 址故障、寻址延迟故障、转换故障、邻域模式敏感故 障、感应晶体管缺陷、字线擦除干扰、位线擦除干扰、 字线编程干扰、位线编程干扰） DFLASH_FM1：卡滞； DFlash DFLASH_FM2：其他故障模型（例如卡滞开路故障、寻 址故障、寻址延迟故障、转换故障、邻域模式敏感故 12