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- 2021-02-16 发布于北京
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用热激活法测量Pt/n-Si 型肖特基二极管肖特基势垒的高度
吴自华*
物理学院 学号:1100011447
本实验中，用热激活法测量得到 Pt/n-Si 型肖特基二极管的品质因
子 n=1.223 、有效理查逊常数 A** =36.29cm2 和肖特基势垒高度
q b 0.686eV 。实验中首先在约300K 的温度下测量了二极管的伏安特性
曲线，利用不同正向偏置电压下的
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