进货检验标准.docVIP

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USIPU 环球制灯有限公司 进料检验标准 文件编号 版次 修订日期 页次 WI-Q003 co 2003-01-17 1/39 三极管检验标准 一、 测试仪器: DY-2993晶体管测试仪 二、 检验方式:(1)抽样方案:正常检查二次抽样 检查水平:S-4 AQL: 1.5 三、检验项冃及要求: 测试项目 三极管型号规格 13001-92 2482S-92 13002-126 13003-126 13003-220 13005-220 13007-220 基-射极间电压 (VBE) IB:基极电流 5mA 5 mA 5inA 5mA 10mA 10mA H:失效判据 0.8V 0.8V 0.8V 0.8V 0.8V 0.8V D:失效判据(AVBE) 190mV 190mV 190mV 190mV 190mV !90mV 基一射间饱和压降 (VBES) IC:集电极电流 100mA 100mA 500mA 500mA 1000mA 1000mA IB:基极电流 20mA 20mA 100mA 100mA 200mA 200mA H:失效判据 1.0V 1.0V 1.0V 1.0V 1.0V LOV 集发间饱和压降 (VCES) IC:集电极电流 100mA 500mA 500mA 500mA 1000mA 1000mA IB:基极电流 20mA 100mA 100mA 100mA 200mA 200mA H:失效判据 0.21 0.21 0.21 0.21 0.21 0.21 射极开路集 —基间反向漏电流 (ICBO) U:测试电压(VCB) 600V 600V 600V 600V 600V 600V H:失效判据(ICBO) 5 u A 5 P A 5 P A 5 u A 5 u A 5 P A D:失效判据(△ICBO) 20 PA 20 PA 20 PA 20 PA 20 P A 20 U A 集电极开路基一射 极间反向漏电流 (IEBO) U:测试电压(VBE) 6V 6V 6V 6V 6V 6V H:失效判据(IEBO) 8u A 8P A 8P A 8u A 8n A 8u A D:失效判据(△IEBO) 30 PA 30 U A 30 PA 30 PA 30 u A 30 PA 基极开路集射间 反向漏电流 (ICEO) U:测试电压(VCE) 350V 350V 350V 350V 350V 350V H:失效判据(ICEO) 5 P A 5 P A 5 P A 5 P A 5 P A 5 M A D:失效判据(△ICEO) 20 u A 20 u A 20 u A 20 u A 20 u A 20 PA 集一基间反向击穿 电压 (BVCBO) IC:集电极电流 1000 m A 1000 u A 1000 u A 1000 m A lOOOu A 1000 m A L:失效判据(BVCBO) 700V 700V 700V 700V 700V 700V 基一射间反向击穿 电压 (BVEBO) IC:射极电流 1000 mA 1000 u A 1000 u A 1000 mA 1000U A 1000 m A L:失效判据(BVEBO) 9V 9V 9V 9V 9V 9V 集射间反向击穿 电压 (BVCEO) IC:集电极电流 1000 m A 1000 u A 1000 u A 1000 m A 1000U A 1000 nA L:失效判据(BVCEO) 430V 430V 430V 450V 450V 450V 直流放大倍数 (HFE) IC:集电极电流 100mA 200mA 300mA 300mA 500mA 1000mA U:集电极电压(VCE) 5V 5V 5V 5V 5V 5V H:失效判据上限(HFE) 30.1 30」 30」 30.1 30」 30」 L:失效判据下限(HFE) 15 15 15 15 15 15 D:失效判据(△11FE) 3() 30 3() 30 3() 30 加温 (HEA) IC:加温电流 300mA 500mA 700mA 1400mA 1400mA 1500mA U:加温电压(VCE) 10V 10V 10V 10V 10V 10V T:加温时间 4S 4S 4S 4S 4S 4S USIPU环球制灯有限公司文件编号进料检验标准 USIPU 环球制灯有限公司 文件编号 进料检验标准修订日期 二极管检验标准 一、 适用范围: 整流二极管IN4007 IN5399、快恢复二极管FR107、超快速恢复HER105 IN4148 二、 使用仪器: 特性示意图: QT2型晶体管图示仪 三、 检验方式: (1) 正常检查二次抽样方案 (2) 检查水平:III (3) AQL:

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