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第5章电子元件参数测量技术 5.5.1晶体管特性图示仪的组成 下图是共发射极NPN型三极管输出特性曲线及其逐点测量法示意图。图(a)中，先固定基极电流IB，改变EC值，可测得一组uCE和iC值；再改变基极电流IB，重复上述过程，可测得多组数值。适当选取坐标，即可得到三极管输出特性曲线，如图(b)所示。 晶体三极管输出特性曲线及逐点测量法示意图 第5章电子元件参数测量技术 晶体管特性仪的测量为动态测量法，逐点测量法是晶体管特性图示仪的测量原理基础。晶体管特性图示仪应具备以下功能： ①能够提供测试过程所需的各种基极电流IB。 ②每一个固定IB期间，集电极电压EC应作相应改变。 ③能够及时取出各组uCE及iC值送显示电路。 第5章电子元件参数测量技术 晶体管特性图示仪主要由阶梯波发生器、集电极扫描信号源、测试变换电路、控制电路、X-Y方式示波器、主电源及高压电源部分等部分组成。 （1）集电极扫描电压发生器。产生如图（a）所示的正弦半波扫描电压波。通常是由50Hz市电经全波整流得到的100Hz正弦半波电压。 正弦半波扫描电压波形和阶梯信号波形及对应关系 第5章电子元件参数测量技术 （2）阶梯信号发生器 产生如图（b）所示的阶梯电压或电流信号波。为避免被测管功耗过大而损坏，一般选用占空比可调的脉冲阶梯波， 这样既可使晶体管导通时