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自动控制原理实验2 二阶系统的瞬态响应 一、实验目的 1. 通过实验了解参数 (阻尼比)、 n(阻尼自然频率)的变化对二阶系统动态性能的影响； 2. 掌握二阶系统动态性能的测试方法。 二、实验设备 同实验一。 三、实验内容 1. 观测二阶系统的阻尼比分别在0 1， =1和 1三种情况下的单位阶跃响应曲线； 2. 调节二阶系统的开环增益K，使系统的阻尼比 1，测量此时系统的超调量 p、 调节时间ts(Δ= ±0.05)； 四、实验原理 1. 二阶系统的瞬态响应 用二阶常微分方程描述的系统，称为二阶系统，其标准形式的闭环传递函数为 2 nC(S) (2-1) 2R(S)S 2 nS n2 2闭环特征方程：S2 2 n n 0 其解 S1,2 n n 1， 针对不同的 值，特征根会出现下列三种情况： 1）0 1（欠阻尼），S1,2 n j n 22 此时，系统的单位阶跃响应呈振荡衰减形式，其曲线如图2-1的(a)所示。它的数学表达式为： C (t) 1 1 2e ntSin( dt ) 2 1式中 d n ， tg 2 。 2） 1（临界阻尼）S1,2 n 此时，系统的单位阶跃响应是一条单调上升的指数曲线，如图2-1中的(b)所示。 3） 1（过阻尼），S1,2 n n 1 此时系统有二个相异实根，它的单位阶跃响应曲线如图2-1的(c)所示。 2 (a) 欠阻尼(0 1) (b)临界阻尼( 1) (c)过阻尼( 1) 图2-1 二阶系统的动态响应曲线 虽然当 =1或 1时，系统的阶跃响应无超调产生，但这种响应的动态过程太缓慢，故控制工程上常采用欠阻尼的二阶系统，一般取 =0.6~0.7，此时系统的动态响应过程不仅快速，而且超调量也小。 2. 二阶系统的典型结构 典型的二阶系统结构方框图和模拟电路图如2-2、如2-3所示。 图2-2 二阶系统的方框图 图2-3 二阶系统的模拟电路图（电路参考单元为：U3、U5、U11、反相器单元） 图2-3中最后一个单元为反相器。 五、实验步骤 根据图2-3，选择实验台上的通用电路单元设计并组建模拟电路。 1. n值一定时，图2-3中取C=1uF，R=100K(此时 n 10)，Rx阻值可调范围为0～470K。系统输入一单位阶跃信号，在下列几种情况下同 值时的实验曲线。 1.1当可调电位器RX=250K时， =0.2，系统处于欠阻尼状态，其超调量为53%左右； 1.2若可调电位器RX=70.7K时， =0.707，系统处于欠阻尼状态，其超调量为4.3%左右； 1.3若可调电位器RX=50K时， =1，系统处于临界阻尼状态； 1.4若可调电位器RX=25K时， =2，系统处于过阻尼状态。 注：由于实验电路中有积分环节，实验前一定要用“锁零单元”对积分电容进行锁零。 六、实验报告要求 1. 画出二阶系统线性定常系统的实验电路，并写出闭环传递函数，表明电路中的各参数； 2. 根据测得系统的单位阶跃响应曲线，分析开环增益K和时间常数T对系统的动态性能的影响。