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统计过程控制— SPC的灵活应用;目 錄 ;一、什麽是统计过程控制 ;工业革命以后, 随着生产力的进一步发展,大规模生产的形成,如何控制大批量产品质量成为一个突出问题,单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求,必须改进质量管理方式。于是,英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。
1924年,美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”,对过程变量进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
;一、???麽是统计过程控制 ;一、什麽是统计过程控制 ;制程控制系统 有反馈的过程控制系统模型;一、什麽是统计过程控制 ;一、什麽是统计过程控制 ;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;4.观察和处理过程变异的两种方法:
;二、什麽是过程变异? ;4.观察和处理过程变异的两种方法: 第7到第10周数据观察结果如下表:
从上表可看出,成本显得特别高,这好象证明了第7—10周不正常的结论,于是工程师们紧急寻找对策,并对该过程进行了改善,此后两周,品质成本有所下降。但在后面又出现了上升,这样究竟改善有无作用呢?无从回答。;二、什麽是过程变异? ;二、什麽是过程变异? ;三、两类过程变异原因 ;三、两类过程变异原因 ;2.普通原因:
;三、两类过程变异原因 ;3.特殊原因:
;四、过程受控与过程能力 ;四、过程受控与过程能力 ;四、过程受控与过程能力 ; ;五、过程四种状态 ;五、过程四种状态 ;五、过程四种状态 ;四、过程四种状态 ;四、过程四种状态 ;六、过程能力与合格率预测 ;六、过程能力与合格率预测 ;六、过程能力与合格率预测 ;六、过程能力与合格率预测;七、过程能力分析;七、过程能力分析;七、过程能力分析;八、 控制图(SPC);八、 控制图(SPC);1 控制图的基本形状
;八、 控制图(SPC);八、 控制图(SPC);八、 控制图(SPC);八、 控制图(SPC);八、 控制图(SPC); 2.数据服从正态分布时落在各区间的概率原理。
3. 小概率事件在抽样检验中不发生原理。
;八、 控制图(SPC);八、 控制图(SPC);八、控制图(SPC);八、 控制图(SPC);九、 计量值控制图;控制界限与规格界限
a)控制界限;
控制界限是过程处于受控状态时数据的可能分布范围,其可以控制数据的均值、极差、标准差
b)规格界限
是从设计阶段即已确定的产品标准和过程工艺标准。
只可以控制单个数值。
;控制界限与规格界限
; 制作 准备
1、取得高层对推行控制图的认可和支持;
2、确定需控制的过程和特性;
a、客户需求
b、该特性的目前问题;
c、可操作性;
3、定义测量系统 ;
4、消除明显的过程偏差
; 制作 流程
1、收集数据;
a、进行测量系统分析
b、确定子组样本数量;
1)子组样本容量: 一般小于9,常取每个子组数5个样本;
2)抽样时,应保持子组样本内的样本在很短时间内抽取,保证子组内中存在普通原因。
; 制作 流程
1、收集数据;
c、确定子组频率;
适当的子组频率可以有效区分特殊原因引起的变化;
一般在进行初始控制时,因对过程不了解,可以加大抽样频率以判断短期内是否存在特殊原因
当过程稳定后,抽样频率可以适当降低。
D、确定子组数
一般来说,要求子组数在25个以上。
; 制作 流程
2、数据表;;九、 计量值控制图/建立控制图;登录数据如下:; 制作 流程
1各组平均值的计算
求出各组的平均值;
=
2 各组全距R的计算
求出每组的全距R=组内最大值-组内最小值
; 制作 流程
3总平均值的计算
求出总平均值;
=
4 全距平均值Rbar的计算
求出全距均值Rbar=
; 制作 流程
5Xbar图控制界限计算
中心线:CL=
上限:UCL= +A2Rbar
下限:LCL= -A2Rbar
; 制作 流程
6Rbar图控制界限计算
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