USB端口的静电放电(ESD)防护.pdfVIP

USB 端口的静电放电（ ESD ）防护 我们在使用 USB 设备时通常都采用热插拔，此时存在静电放电的隐 患。这篇应用说明阐述了怎样使用瞬态抑制二极管阵列保护 USB 设备免受 ESD 影响。 虽然至今为止在 USB 1.1 和 USB 2.0 的规范中并未要求 ESD 防 护，但 USB 元件的可热插拔性使它成为静电放电敏感元件，因此对所有 USB 端口实施 ESD 防护是极其重要且必需的。 随着现代社会的飞速发展，我们对电子设备的依赖与日俱增 .现代电脑越 来越多的采用低功率逻辑芯片，由于 MOS 的电介质击穿和双极反向结电流的 限制，使这些逻辑芯片对 ESD 非常敏感。大多数 USB 集成电路都是以 CMOS 工艺为基础来设计和制造的，这导致它们对 ESD 造成的损害也很敏感，另外， USB 端口是热插拔系统，极易受到由用户或空气放电造成的 ESD 影响。用户 在插拔任何 USB 外设时都可能产生 ESD 。在距离导电面的几英寸的位置可产 生空气放电。静电可以损害 USB 接口，造成 USB 集成电路故障，最糟糕的是 会在电子系统中产生数据位重影。这些损害和故障造成电子设备的 ”硬性损伤 ” 或元器件损坏。虽然对于硬性损伤我们可以很容易地更换失效的元器件并使系 统重新纳入正轨，但是，假如发生了 软性损伤“ ”(CMOS元件性能降级 )，此时 系统会不断产生不规则的数据位，要花费数小时来进行故障排查，并且依靠重 复测试也很难发现系统异常，因此针对 USB 元件的 ESD 防护已经迫在眉睫。 ESD 元件不仅要符合以上所述的 ESD 业界标准，还牵涉使用能在高速 数据传输情况下工作的先进半导体器件。因此保护串行端口的传统方法在 USB 应用中将会过时或者无效。