CWDM测试方法计划.docxVIP

精品文档 精品文档 PAGE PAGE5 精品文档 PAGE CWDM 模块测试方案对照 当前DWDM技术已经宽泛应用于长距离高速光通信系统中如国家主干网、 海底光缆通 信系统上，但 DWDM 由于技术较复杂、成本高，不适合应用于城域网和接入网中。 随着越来越多的城域网营运商开始寻求更合理的传输解决方案， CWDM越来越宽泛地 被业界所接受。和DWDM系统不同，CWDM系统采用的是不带冷却器的散布式反应 （DFB） 激光器和宽带光滤波器，因此 CWDM系统具有以下优点：功率损耗低、尺寸小和成本低。 CWDM系统的投放市场使得它在城域网和接入网中能够替代 DWDM系统。 大部分CWDM系统工作在从 1470nm到1610nm的范围内，其信道间距为 20nm。 当前制作CWDM的技术有薄膜滤光片（ ThinFilmFilter,TFF）和全光纤耦合器（ All Fiber Coupler）等方式。 不论哪一种CWDM器件的制作方式都存在同样一个特别重要的问题： 这些指标包括插入损耗，通道带宽，隔绝度，通带平坦度等重要指标。由于 波长范围特别宽（ 140nm）,因此测试相对也较复杂。  技术指标的测试， CWDM覆盖的 一．常用测试方法有以下几种： 1．以白光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：白光源的波长覆盖范围很宽。 缺点：白光源的功率密度很小，-55dBm/nm,因此隔绝度指标测试只能到20dB左右，难以能知足要求。 2．以1550nmLED光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：LED光源的波长覆盖范围较宽，价钱较便宜。 缺点：LED光源的功率密度较小，在 -40~-50dBm/nm范围内,因此隔绝度指标测试 只能到20~30dB左右，自然如果光谱仪用高灵敏度的扫描方式也可达到 30~40dB, 但又存在测试效率很低的问题（扫描一个通道大概要 5分钟）。 3．以可调谐激光器作为测试光源，再用光功率计检测 优点：还可测试 PDL，回波损耗等指标。 缺点：一般单台可调谐激光器的波长覆盖不了 CWDM的要求范围，所以需要 2台； 此外必须选较高档的可调谐激光器，否则一般的可调谐激光器由于 ASE的影响隔 离度指标也只能测到 30dB左右。 还有测试速度、慢效率低，成本高，测试曲线易受 PDL的影响。 4．以S+C+L宽带光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：测试效率高，结果直观。 缺点：成本高（特别是 S波段的高功率宽带光源） ，仪器罕有。 5．以ASE-C+L宽带光源作为测试光源，再用光谱仪扫描 优点：测试效率高，结果直观，成本适中，是一种最常用的测试方案。 ASE-C+L宽带光源大概覆盖了 1520~1620nm的波长范围，在这个范围内光 功率密度比 LED光源约大 3个数量级（可参照图一） ，因此CWDM的隔绝 度指标可测到 50dB以上。 缺点：在1470~1520波段的光较弱， 但它仍旧有一些光， 其光功率密度与 LED光源 相当，隔绝度指标能测到 20~30dB 左右，自然也可用高灵敏度的扫描方式 提高测试隔绝度。 ASE-C+L 1550LED 图一 ASE-C+L光源与1550LED 光源光谱比较图 二．用ASE-C+L光源测试CWDM模块方案： 1. 将ASE-C+L光源和光谱仪置于有空调的环境下，开机预热起码 60分钟 2. 用跳线将ASE-C+L光源和光谱仪连结起来，将测试分辨率设为 0.1nm，灵敏度在 1520~1620nm扫描可用Auto或Middle方式，在1470~1510nm扫描可用HIGH1 或 HIGH2方式，扫描一条曲线存到TRACEA，再FIXA，以后扫描的曲线存到曲线 B， 显示曲线C=B-A，即为器件的特性曲线。 按下列图二将被测CWDM模块接入光路中，分别扫描出每一通道的特性曲线，从特性曲线能够得出插入损耗，通道带宽，隔绝度，通带平坦度等重要指标。 ASE-C+L CWDM OSA 光源 模块 光谱仪 图二 CWDM 模块测量连结图 注：以上介绍的是 CWDM模块的测量方法，关于 CWDM薄膜滤光片和 CWDM 光纤 耦合器等器件也可用近似的测量方法。 三．朗光ASE宽带光源简介： 1．概括 ASE光源是一种高稳定、高功率输出的宽带光源，宽泛应用于光纤无源器件的生产与 测试，在光纤光栅、 DWDM薄膜滤波器、CWDM薄膜滤波器、AWG等器件的测试中采用 ASE光 源与采用白光源或可调谐激光器相比， 可提高功能 10倍以上，而且操作简单、测试精度高。 别的ASE光源其余光纤器件如： 光纤耦合器、隔绝器、光环行器等无源器件的带宽特性测量。 2．C波段基本光路图 980PUMP CONNECTOR ISOLATOR 980/1550WDM EDF 图三 C波段基本光路图 3．技术参数