IC测试基本原理与ATE测试向量生成.pdf

IC 测试基本原理与 ATE测试向量生成 来源：互联网 集成电路测试（ IC 测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产 品的质量与可靠性。 随着集成电路的飞速发展， 其规模越来越大， 对电路的质量与可靠性要 求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展 IC 测试，有着 重要的意义。而测试向量作为 IC 测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。 1 IC 测试 1.1 IC 测试原理 IC 测试是指依据被测器件（ DUT）特点和功能，给 DUT提供测试激励（ X），通过测量 DUT输出响应（ Y）与期望输出做比较，从而判断 DUT是否符合格。图 1 所示为 IC 测试的基 本原理模型。 根据器件类型， IC 测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。数字 电路测试是 IC 测试的基础， 除少数纯模拟 IC 如运算放大器、 电压比较器、 模拟开关等之外， 现代电子系统中使用的大部分 IC 都包含有数字信号。 图 1 IC 测试基本原理模型 数字 IC 测试一般有直流测试、交流测试和功能测试。 1.2 功能测试 功能测试用于验证 IC 是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试是数字电路测试 的根本，它模拟 IC 的实际工作状态，输入一系列有序或随机组合的测试图形，以电路规定 的速率作用于被测器件， 再在电路输出端检测输出信号是否与预期图形数据相符， 以此判别 电路功能是否正常。其关注的重点是图形产生的速率、边沿定时控制、输入 / 输出控制及屏 蔽选择等。 功能测试分静态功能测试和动态功能测试。 静态功能测试一般是按真值表的方法， 发现 固定型（ Stuckat ）故障。动态功能测试则以接近电路工作频率的速度进行测试，其目的是 在接近或高于器件实际工作频率的情况下，验证器件的功能和性能。 功能测试一般在 ATE （Automatic Test Equipment ）上进行， ATE 测试可以根据器件在 设计阶段的模拟仿真波形， 提供具有复杂时序的测试激励， 并对器件的输出进行实时的采样、 比较和判断。 1.3 交流参数测试 交流 （AC）参数测试是以时间为单位验证与时间相关的参数， 实际上是对电路工作时的 时间关系进行测量， 测量诸如工作频率、 输入信号输出信号随时间的变化关系等。 常见的测 量参数有上升和下降时间、 传输延迟、 建立和保持时间以及存储时间等。 交流参数最关注的 是最大测试速率和重复性能，然后为准确度。 1.4 直流参数测试 直流测试是基于欧姆定律的， 用来确定器件参数的稳态测试方法。 它是以电压或电流的 形式验证电气参数。直流参数测试包括：接触测试、漏电流测试、转换电平测试、输出电平 测试、电源消耗测试等。 直流测试常用的测试方法有加压测流（ FVMI）和加流测压（ FIMV），测试时主要考虑测 试准确度和测试效率。通过直流测试可以判明电路的质量。如通过接触测试判别 IC 引脚的 开路 / 短路情况、通过漏电测试可以从某方面反映电路的工艺质量、通过转换电平测试验证 电路的驱动能力和抗噪声能力。 直流测试是 IC 测试的基础，是检测电路性能和可靠性