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Statistical Process Control统计过程控制内容提要SPC的基本原理控制图过程能力研究直方图、柏拉图、散布图直通率、DPMO分析SPC简介SPCStatistical: (统计)以概率统计学为基础,用科学的方法分析数据、得出结论; Process: (过程)有输入-输出的一系列的活动; Control: (控制)事物的发展和变化是可预测的;SPC的基本原理波动无处不在正常波动和异常波动通过保持过程受控和稳态提高过程能力和品质水平68%95%99.7%3 σ原理 SPC的意义全面、及时了解质量信息,信息共享有效监测和预防,提高生产率提高客户满意度,赢得更多客户保持产品和服务质量的稳定性及进一步的持续改进降低总的质量成本SPC的意义有效监测与预防USL管理控制图UCL将导致在此处耗费时间查找原因实际的变化发生在此处“SPC就像房屋中的烟雾探测器:只要这种装置备有电池,并且被正确安置以及旁边有人监听,那么它就可以提前发出警报使你有足够时间阻止房屋起火”——《6 Sigma管理法 追求卓越的阶梯》内容提要SPC的基本原理控制图过程能力研究直方图、柏拉图、散布图直通率、DPMOSPC简介控制图质量特性的分类控制图的分类控制图的构成控制图应用的二个阶段控制限的计算判异准则质量特性分类计量型:用各种计量仪器测出、以数值形式表现的测量结果,包括用量仪和检测装置测的零件直径、长度、形位误差等,也包括在制造过程状态监控测得的切削力、压力、温度、浓度等。计数型:通常是指不用仪器即可测出的数据。计件如不合格件数;计点如PCB上的漏焊数、溢胶数等计量型计数型计件型计点型 18171615141312111098765点落在该区间的概率为99.7% -3s+3s Average12345678910控制图的构成Components of Every Control Chart:1. Data Points 3. Upper Control Limit2. Center Line 4. Lower Control Limit控制图的要素纵坐标:数据(质量特性值或其统计量)横坐标:按时间顺序抽样的样本编号上虚线:上控制界限UCL下虚线:下控制界限LCL中实线:中心线CL控制界限=平均值±3σ控制图原理:1) 3 σ原理: 若变量X服从正态分布,那么,在 ±3σ 范围内包含了99.73% 的数值。2) 中心极限定理: 无论产品或服务质量水平的总体分布是什么,其 的分布(每个 都是从总体的一个抽样的均值)在当样本容量逐渐增大时将趋向于正态分布。控制图的分类计量型控制图计数型控制图计量型控制图均值-极差控制图 ( )均值-标准差控制图 ( )单值-移动极差控制图 ( )……计数型控制图不良率控制图(P图)不良品数控制图(Pn图)缺陷数控制图(C图)单位缺陷数控制图(U图)选择合适的控制图计量型数据吗?是否 性质上是否均匀或不能按子组取样?关心的是不合格品率吗?是否是否 子组容量≥ 9?样本容量是否恒定?关心的是单位零件缺陷数吗?否是否是是np或p图p图样本容量是否恒定?是否C或U图U图计量型控制图计数型控制图控制图应用的二个阶段分析阶段控制阶段分析阶段在控制图的设计阶段使用,主要用以确定合理的控制界限;每一张控制图上的控制界限都是由该图上的数据计算出来;从分析阶段转入控制阶段在什么条件下分析阶段确定的控制限可以转入控制阶段使用:控制图是受控的过程能力能够满足生产要求控制阶段控制图的控制界限由分析阶段确定;控制图上的控制界限与该图中的数据无必然联系;使用时只需把采集到的样本数据或统计量在图上打点就行;何时应该重新计算控制界限控制图是根据稳定状态下的条件(人员、设备、原材料、工艺方法、测量系统、环境)来制定的。如果上述条件变化,则必须重新制定控制图.一定时间后检验控制图还是否适用;过程能力值有大的变化时。控制限的计算方法1.计算各组样本统计量,如样本平均值、极差及总平均值:2.计算控制界限:X控制图R控制图 移动极差移动极差是指一个测定值 xi 与紧邻的测定值xi+1 之差的绝对值,记作MR, MR = | xi - xi+1 | (i=1,2,…,k-1) 其中:k为测定值的个数; k个测定值有k-1个移动极差,每个移动极差值相当与样本大小n=2时的极差值.1 计算总平均数:2 计算移动极差平均数:3 计算控制界限:X控制图MR控制图P控制图的控制限计算计算总平均不良率和上下控制界限:在实际应用中,当各组容量与其平均值相差不超过正负25%时,可用平均样本容量( )来计算控制限.U控制图的控制限计算计算单位缺陷数和上下控制界限:判异准则及SPC的
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