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过程能力受控状态下过程特性数值的分布范围称为过程能力对于服从正态分布的过程特性数值,根据3?原则,一般以分布中心± 3?的范围来表示过程能力过程能力反映了过程中普通因素对过程特性综合影响的程度过程能力指数对处于受控状态的过程,通常用规格限与过程特性数值的分布范围进行比较,以确定过程特性是否满足要求规格限与过程特性数值分布范围的比值称为过程能力指数过程能力指数反映了过程波动占用规格限的程度,直观表示了过程质量的好坏过程能力指数当过程特性数值的分布中心与规格中心重合时,过程能力指数定义为规格范围与6?之比,称为潜在过程能力指数Cp: Cp = (Tu - Tl ) / 6? 一般地,如果Cp1,则过程输出能够满足要求;如果Cp1,过程则会加工出大量不合格品过程能力指数在实际过程中,特性数值的分布中心与规格中心往往不重合,有一定的偏移,而Cp不能反映过程的偏移情况,这时须用实际过程能力指数Cpk来评价过程能力: Cpk = min(Cpu,Cpl ) ……(1) 其中: Cpu = (Tu - μ ) / 3? , Cpl = (μ - Tl ) / 3? 过程能力指数Cpk = (l – k) Cp = (T - 2ε) / 6? ……(2) 其中:M为标称值, ε = | M - μ | , 偏移系数 k = 2ε / T 单侧公差时: Cpk= (Tu - μ ) / 3? 只给出上限标准时 Cpk = (μ - Tl ) / 3? 只给出下限标准时 …… (3)过程能力指数与质量特性关系过程改进策略 确定SPC应用对象 制定抽样计划并采集数据 过程受控吗? 否 消除特殊因素的影响 是 过程有能力吗? 否 减小普通因素的影响 是 对过程持续监控 失控 持续改进 受控过程性能指数又称为长期过程能力指数C系列过程能力指数- Cp、Cpu 、Cpl 、 Cpk P系列过程性能指数- Pp、Ppu 、Ppl 、 Ppk 第五节 常规控制图的作法及其应用各类常规控制图的使用场合X—R图X—s图X—Rs图Me—R图p图c图u图各类常规控制图的使用场合控制图类型中心线控制界限打点值样本容量__________===X—R控制图X图CL=XUCL=X+A2R, LCL=X-A2RXi1n10以3~5为宜______R图CL=RUCL=D4R, LCL=D3RRi__________===X—S控制图X图CL=XUCL=X+A3S, LCL=X-A3SXin1以n5为宜______S图CL=SUCL=B4S, LCL=B3SSi__________~~~~~~X—R控制图X图CL=XUCL=X+m3A2R, LCL=X-m3A2RXi1n10以3~5为宜______R图CL=RUCL=D4R, LCL=D3RRi__________X—Rs控制图X图CL=XUCL=X+2.660R, LCL=X-2.660RXin=1____Rs图CL= RsUCL=3.267 Rs, LCL=0Rsi常规计量值控制图X—R图X-R控制图将X图与R图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-R控制图的条件: ?特性连续可计量,服从或近似服从正态分布 ?样本容量n为定数,且n 10 ?按时序可采集20个以上的样本(即k ≥ 20) ?应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立X—s图X-S控制图将X图与S图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-S控制图的条件: ?特性连续可计量,服从或近似服从正态分布 ?样本容量n为定数,且n 1 ?按时序可采集20个以上的样本(即k ≥ 20) ?应采集同一过程的质量特性值,且测量值之间相互独立 ?计算工具应方便在现场计算S值X—Rs图X-Rs控制图适用场合: ?小批量生产,无法获得较多数据 ?只能获得一个观测值(如,生产效率、消耗定额) ?过程质量均匀,无需多次观测(流程型材料生产) ?因费用或时间关系,只能取得一个观测值(破坏性试验)选用X-Rs控制图的条件: ?质量特性连续可计量 ?样本服从或近似服从正态分布 ?样本容量n=1 ~Me(X)—R图~~X-R控制图将X图与R图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化选用X-R控制图的条件: ?特性连续可计量,服从或近似服从正态分布 ? 样本容量n为定数,且n 10 ?按时序可采集20个以上的样本(即k ≥ 20) ?应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立~控制图控制限中心线打点值样本容量质量特性p图UCL= p+3[ p(1- p) / ni
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