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硬件测试华为2016校招硬件技术工程师机考试题及 硬件测试华为2016校招硬件技术工程师机考试题及 PAGE / NUMPAGES 硬件测试华为2016校招硬件技术工程师机考试题及 1.( 判断题 )DRAM 上电时储存单元的内容是全 D. 不变 0，而 Flash 上电时储存单元的内容是全 1。 但电容的大小不是由 (4 分) Q（带电量）或 U（电压）决定的，即： A. 正确 C=εS/4πkd。此中，ε 是一个常数， S 为电容极 B. 错误 板的正对面积， d 为电容极板的距离， k 则是静 FLASH可保留 电力常量。而常有的平行板电容器 2.( 判断题 ) 眼图能够用来剖析高速信号的码 电容为 C=εS/d. （ε 为极板间介质的介电常数， S 间扰乱、颤动、噪声和衰减。 (4 分) 为极板面积， d 为极板间的距离。 ） A. 正确 3 电容器的电势能计算公式： E=CU^2/2=QU/2 B. 错误 3.( 判断题 ) 以太网互换机将矛盾域限制在每 10.( 单项选择题 )8086CPU 内部包含哪些单元 (4 个端口，提升了网络性能。 (4 分) 分 ) A. 正确 ,EU B. 错误 ,BIU 4.( 判断题 ) 放大电路的输出信号产生非线性 ,BIU 失真是因为电路中晶体管的非线性惹起的。 (4 ,EU,BIU 分 ) 80x86 从功能