KC8-嵌入式技术应用04编写ds18b20test测试程序编写ds18b20test测试程序-KC08131404-d03.docVIP

- PAGE 3 - 编写ds18b20_test测试程序 　　本次课将为ds18b20_driver驱动程序编写一个测试程序，大约每隔2秒读取一次ds18b20暂存器中9个字节，同时底层驱动会打印处理得到的温度值和这9个字节。 一、测试程序ds18b20_test源码分析 　　见ds18b20_test.c，可以使用gedit打开。ds18b20_test测试程序的核心语句如下所示。 　　先来介绍一下crc校验函数，如果函数的返回值为0表示校验正确。 unsigned char crc_check(unsigned char j) unsigned char crc_check(unsigned char j) { unsigned char i, ucCrcData=0; for(i=0;ij;i++) { //校验算法为CRC-8/MAXIM ucCrcData = ucCrcTable[ucCrcData^result[i]]; } //result[]最后一个字节为读取到的CRC值 return ucCrcData; //如果函数的返回值为0, 表示校验成功 } 接下来，我们看一下主函数，如下所示。 int main(void) int main(void) { in