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ppt课件 2.裂纹扩展(裂尖定向溶解阶段): 裂纹形成后,特殊的几何条件构成了一个闭塞区。裂纹内部形成了“闭塞电池”,并进而在裂纹尖端和裂纹壁之间形成了“活化-钝化腐蚀电池”,创造了裂尖快速溶解并自催化的电化学条件。 应力和材料的不均匀性为快速溶解提供了择优腐蚀的途径。预存活性途径和应变产生的活性途径导致沿晶和穿晶SCC裂纹扩展。 3.断裂(纯机械断裂阶段): 在SCC裂纹扩展到临界尺寸时,裂纹失稳而导致纯机械断裂。 SCC机理2:氢致开裂机理 防止SCC的措施 选材、消除应力和减轻腐蚀 选材: 根据材料的具体使用环境,尽量避免使用对SCC敏感的材料; 消除应力: 改进结构设计,减小应力集中; 在部件的加工、制造和装配过程中尽量避免产生较大的残余 应力; 可通过热处理、表面喷丸等方法消除残余应力。 防止SCC的措施 减轻腐蚀: 改善环境,降低环境的SCC敏感性: 控制或降低有害的成分; 腐蚀介质中加入缓蚀剂; 改变电位、促进成膜; 电化学保护: 可以通过控制电位进行阴极保护或阳极保护防止SCC的发生。 涂层: 使用有机涂层可将材料表面与环境分开,或使用对环境不敏感的金属作为敏感材料的镀层,都可减少材料SCC敏感性。 氢致开裂 氢致开裂 氢致开裂的定义: (Hydrogen Induced Cracking, HIC) 金属中氢的存在或氢与金属交互作用引起的金属开裂的现象。 金属中氢的行为 氢的来源和氢的传输 1、氢的来源: 根据来源不同,金属中的氢可分为内氢和外氢 内氢: 材料在使用前内部就已经存在的氢,主要是在冶炼、热处理、酸洗、电镀、焊接等过程中吸收的氢 外氢(也称为环境氢): 材料在使用过程中,与含氢介质接触或进行阴极析氢反应吸收的氢。 氢在金属中的溶解度 西沃茨定律: 在恒定的温度下,处于平衡状态时,氢的浓度与氢压的平方根成正比。 氢陷阱 固溶在金属中的氢原子占据晶体点阵的最大间隙位置,如bcc金属的四面体间隙和fcc金属的八面体间隙。 少量氢处于晶格间隙外,绝大部分氢处于各种缺陷位置,如晶界、共格沉淀、非共格沉淀、位错、空位、孔隙等。 可供氢存在的缺陷被称为氢陷阱。 处于晶格间隙位置的氢原子(浓度为CL)可以被陷阱捕获,而陷阱中的氢原子(浓度为CT)也可能跑出陷阱进入晶格间隙位置。 在平衡时: 平衡常数K: Eb为陷阱结合能。 如Eb较小(≤0.6eV),氢容易从陷阱中跑出来,这种陷阱为可逆陷阱。处于可逆陷阱中的氢易于参与氢的扩散及氢致开裂过程。 如果Eb较大(0.6eV),氢陷阱中的氢难以跑出,这类陷阱为不可逆陷阱。处于不可逆陷阱中的氢难于参与氢的扩散及氢致开裂过程。 可逆陷阱和不可逆陷阱在外部条件(如温度)变化时可能发生转变。 2、氢的传输 : 发生氢致开裂的金属的平均氢含量一般都很低。而发生氢致开裂需要较高的氢浓度,因此当发生氢致开裂时,金属中的氢出现了局部富集,而这种富集是通过氢在金属中的传输来实现的。 氢的传输有扩散和位错迁移两种方式。 扩散: 金属中存在氢的浓度梯度或应力梯度时就会导致氢在金属中的扩散。 当金属中存在氢的浓度梯度时,氢将从浓度高的地方向浓度低的地方扩散。 存在应力梯度时,氢由应力低的地方向应力高的地方扩散,最终可使高应力区的氢浓度远高于整体的平均氢浓度。 在常温下,由于氢陷阱的存在,对氢在金属中的扩散行为影响较大;高温下,影响较小。 位错迁移: 位错是一种特殊的氢陷阱,位错不仅能将氢原子捕获在其周围,形成Cottrell气团,而且由于氢在金属中扩散快,在位错运动时氢气团能够跟上位错一起运动,即位错能够迁移氢。 当运动的位错遇到与氢结合能更大的不可逆陷阱时,氢将被“倾倒”在这些陷阱处。 氢致开裂的分类 氢腐蚀:由于氢在高温高压下与金属中第二相(夹杂物或合金添加物)发生化学反应,生成高压气体(如CH4、SiH4)引起材料脱碳、内裂纹和鼓泡的现象。 氢鼓泡:过饱和的氢原子在缺陷位置(如夹杂)析出,形成氢分子,在局部造成很高的氢压,引起表面鼓泡或内部裂纹的现象。 氢化物型氢脆:氢与IVB和VB族金属有较大的亲和力,含氢量较高时容易生产脆性的氢化物相,并在随后受力时成为裂纹源,引起脆断。 氢致开裂的分类 应力诱发氢化物型氢脆: 在应力作用下氢向应力
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