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大功率密度封装用粉末冶金
热沉材料; 集成电路封装就是将一个具有一定功能的集成电路芯片(包括半导体集成电路芯片、薄膜集成电路基片、混合集成电路芯片)放置在一个与之相应的外壳容器中,为芯片提供一个稳定可靠的工作环境,保护芯片不受或少受外部环境影响,使集成电路具有稳定正常的功能。; 塑料封装材料(酚醛类、环氧类、聚脂
类、有机硅)
金属封装材料(Cu、可伐、Si/Al、WCu、MoCu、
Cu-Mo-Cu)
陶瓷封装材料(AlN、SiC、BeO)
陶瓷金属封装材料(SiC/Al)
其他(CVD Diamond、Diamond/Cu、Diamond/Ag)); 塑料封装由于具有成本低和便于自动化生产的优点,国际上90%的集成电路都采用塑料封装,并且随着塑封材料、封装结构和工艺的不断改善,比例还在不断扩大。; 在功率半导体器件、高集成度微电子器件、微波电子器件、光电器件中,随着工作频率和功率密度的不断提高,对器件的散热问题提出了严重的挑战。
Intel has “hit a thermal wall”
《纽约时报》-5/17/2004
;Thermal Management
-电路设计
-封装材料选择(Heatsink)
-生产工艺选择
-封装结构设计;热沉材料(Heatsink Materials); 2、匹配的热膨胀系数
匹配即与电子器件用陶瓷或其他介质的膨胀系数的差值小于10%,这样可以降低热阻,提高工件的稳定性、可靠性,延长使用寿命。;3、气密性
为保证电子元件工作的稳定性,高精密
度的电子元件空腔要求为高真空,封装材料
任何微量的漏气都可能导致电子元件的失
效。因此要求电子封装材料具有很高的气密
性。在热沉材料中,高的相对密度意味着高
的气密性。
4、一定的机械强度
保护整体封装结构,防止外部机械性的破坏。;;二、热沉材料的制备工艺;;
AlN陶瓷的烧结非常困难,采用热压、热等静压、SPS烧结等方法能够制备出高密度高质量的AlN制品,但这些工艺成本高、效率低,无法满足电子行业日益增长的需求量。目前常用的方法是添加Y2O3、CaO等烧结助剂的常压烧结。
添加剂在高温下和AlN颗粒表面的氧化铝反应生成低熔物,产生液相,促进了AlN陶瓷的致密化。液态晶界相的存在也减少了AlN晶格中的氧缺陷,提高了AlN陶瓷的热导率。采用这种方法可制备出热导率为170~220w/m·k的AlN基片。; W-Cu、Mo-Cu合金热沉材料的制备
W粉与Cu粉直接混合烧结。
由于W、Mo与Cu几乎没有任何的溶解度,直接混粉烧结很难获得高致密度Wcu、MoCu复合材料。Ni、Fe烧结组剂的添加将极大降低WCu、MoCu的导热性。比较成功的工艺是机械合金化与W/Cu包覆粉末制备工艺。
;一定配比原料粉末;W包Cu合金粉末直接烧结;90WCu混粉直接烧结金相照片
烧结密度低,孔隙大,导热率低;复合包覆粉末烧结WCu金相照片;其它常用的制备方法为熔渗法,即将W粉、Mo粉压制成型后,在一定温度下烧结得到所需的骨架孔隙度,再将Cu渗入孔隙中。
其优点是用这种方法制备的材料,热导率高,气密性好。
缺点:工艺过程较复杂,无法使用MIM工艺制备复杂形状产品。
;W粉末成型;SiC/Al材料的制备
目前采用的方法是先成型SiC颗粒预制件,再将Al液熔化后渗入合成。由于SiC和Al的润湿性差,Al无法自发渗入,多采用压力熔渗、基体金属合金化、陶瓷颗粒表面涂层等方法改善其润湿性。;不同Al含量SiC/Al的CET值;原料粉末;浸渗SiC/Al复合材料金相照片;PROPERTIES DATA ;;超高热导热沉材料
CVD金刚石薄膜
;??刚石熔点高达3000oC以上,抗氧化能力强,天然IIa型金刚石晶体室温下热导率为2000W/mk,是已知物质中最高的,为Cu的5倍。化学气相沉积(CVD)金刚石为多晶结构,膜内存在大量杂质与缺陷,其导热性能一般达不到天然金刚石的水平。
金刚石热沉是解决迅猛发展的芯片散热问题的理想材料。;热丝CVD制备金刚石薄膜的基本原理是将含碳气源(如甲烷)和氢气在灯丝产生的高温(2000oC以上)作用下分解离化后产生含碳基团和原子氢等,他们的相互作用促使构成金刚石的SP3杂化碳-碳键的形成,从而在基体(温度600-1000oC)表面沉积金刚石薄膜。;颗粒增强型金刚石/金属基复合热沉材料;金刚石颗粒/SiC热沉材料;金刚石颗粒增强Cu基热沉材料;金刚石颗粒增强Al基热沉材料;总结
高热导封装材料对
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