表面分析技术：XRF-STM_新能源检测技术材料化学元器件汽车电子热分析实验室仪器温度研发工程师试验硬件质量检测.docVIP

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2021-09-22 发布于浙江
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表面分析技术：XRF-STM_新能源检测技术材料化学元器件汽车电子热分析实验室仪器温度研发工程师试验硬件质量检测.doc

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一文读懂表面分析技术：XRF-STM 要点： 1）XRFS：光致发光，二次特征X射线波谱与能谱类似于电子探针中的波谱与能谱。XPS也是光致发光。第1次特征X射线均是由电子束作用选定的靶材产生的，第2次特征X射线是第1次特征X射线作用试样后产生的。 2）XRFS具有分析元素范围广（4Be～92U）、元素含量范围大（0.0001%～100%）、固态试样不作要求（固体、粉体、晶体和非晶体等）等特点，分析不受元素化学状态的影响，属于物理分析过程，试样无化学反应，无损伤，主要用于表面成分分析。 3）STM的隧道电流与绝缘体厚度呈指数关系，对厚度十分敏感，故其精度高。待测试样为导体或半导体、针尖为金丝、铂丝、钨丝等，针尖长度不超0.3nm，理想为1个原子。对不良导体虽然可以在其表面涂敷导电层，但涂层的粒度及其均匀性会直接影响图像对真实表面的分辨率，故对不良导体的表面成像宜采用其他手段，如原子力显微镜等进行观察。 4）STM在平行和垂直于样品表面方向上的分辩率分别达到0.1nm和0.01nm，而原子间距为0.1nm量级，故可观察原子形貌，分辨出单个原子，克服了SEM、TEM的分辨率受衍射效应的限制，因而STM具有原子级的高分辨率。但在恒流工作时，对样品表面微粒间的某些沟槽不能准确探测，分辨率也不高。 5）STM可实时观察表面原子的三维结构像，用于表面结构研究，如表面原子扩散运动的动态观察等。观察表面单个原子层的局部结构，如表面缺陷、表面吸附、表面重构等。 6）STM一般无需特别制备样品，且对样品无损伤。工作环境要求不高，可在真空、大气或常温下工作。 ? ?