南京大学物化实验系列x射线粉末衍射法测定晶胞常数复习进程.docxVIP

南京大学物化实验系列 X 射 线 粉 末 衍 射 法测定晶胞常数 实验二十九X射线衍射法测定晶胞常数一粉末法 一?实验目的和要求 1、 了解X射线衍射仪的基本原理、简单结构和操作方法。 2、 掌握X射线粉末法的原理，测定 NaCI或NH4CI的晶体点阵形式、晶胞参数 以及晶胞中内含物的个数。 二.XRD技术的原理和仪器简单介绍 1、X射线的产生 在抽至真空的X射线管中，钨丝阴极通电受热发射电子，电子在几万伏的 高压下加速运动，打在由金属 Cu （Fe、Mo）制成的阳靶上，在阳极产生 X射 线，如书上P256图111-8-1所示。 众所周知，X射线是一种波长比较短的电磁波。由 X射线管产生的X射 线，根据不同的实验条件有两种类型： （1） 连续X射线（白色X射线）:和可见光的白光类似，由一组不同频率不同波 长的X射线组成，产生机理比较复杂。一般可认为高速电子在阳靶中运动，因 受阻力速度减慢，从而将一部分电子动能转化为 X射线辐射能。 （2） 特征X射线（标识X射线）:是在连续X射线基础上叠加的若干条波长一定 的X射线。当X光管的管压低于元素的激发电压时，只产生连续 X射线；当管 压高于激发电压时，在连续X射线基础上产生标识X射线；当管压继续增加， 标识X射线波长不变，只是强度相应增加。标识 X射线有很多条，其中强度最 大的两条分别称为Ka和Kb线，其波长只与阳极所用材料有关。 X