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顾及粗差影响的全球电离层克里金插值及精度分析.docx

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    摘要：针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题，基于克里金插值的变异函数，构造电离层插值的粗差剔除统计量，实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证，得出以下结论：①粗差剔除统计量能有效剔除粗差，保证插值精度与样本精度相当；②基于2014年太阳活动高年样本，克里金插值的精度RMS为1.0~5.0 TECU（total electron content unit）。 关键词：克里金插值????总电子含量????全球插值????粗差剔除????精度分析???? Global ionospheric Kriging interpolation and pr

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