BESIIIEMC电子学系统由前放.pptxVIP

EMC电子学系统 BESIIIEMC电子学系统由前放、主放、Q插件、测试控制器、扇出插件等部分构成。前放的设计采用了若干低噪声技术和抗干扰措施，对探测器输出的微弱信号进行放大，保证了后端电荷测量精度;电荷测量采用分三个量程数字化的方法实现15bit动态范围； 采用FPGA来完成数据的缓存、预处理，提高的系统的集成度、增加了数据处理的并行度灵活性 经过了三次束流测试和384通道小系统的长时间测试证明， EMC电子学系统已经达到或超过预定的设计指标 BESⅢ EMC电子学系统的主要功能是测量电荷量，从而确定粒子在CsI晶体中的能量损失，同时给出粗略的粒子击中晶体的时间信息。另外一个重要任务是向触发判选系统提供晶体的能量信息作为事例筛选的依据之一。 EMC电子学系统设计框图 安装EMC电子学系统前放 EMC电子学系统主放和电荷测量插件 EMC电子学384通道测试系统 EMC 与在线系统联合测试 安装在晶体上的前放和电缆