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特种设备无损检测RT 专业Ⅱ级(闭卷A)理论答案 特种设备无损检测RT 专业Ⅱ级〔闭卷A〕理论答案一、是非题〔20 题，每题2 分，共40 分。对画○，错画×〕得分：阅卷人:1、X、γ射线与红外线、可见光的区分只是在于波长不同以及产生的方法不同。〔×〕2、γ射线在空气中以光速直线传播。〔○ 〕3、线衰减系数与射线能量、物质的原子系数和密度有关。〔○ 〕4、放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。〔×〕5、金属增感屏除有增感作用外，可汲取散射线，进步影像比照度。〔○ 〕6、X 射线管焦点的大小与管电压、管电流无关。〔×〕7、在任何状况下，同位素放射源装置都优于X 射线设备，这是由于用法它能得到更高的对比度和清楚度。〔×〕8、像质计通常用与被检工件材质一样或对射线汲取性能相像的材料制作。〔○ 〕9、Ir192 射线源比X 射线源对人体的损害大。〔×〕10、几何不清楚度Ug 与固有不清楚度Ui 相等时的焦距值是射线照相的最正确焦距。〔○ 〕11、底片上出现黑度低于四周背景黑度的B字影像，说明背散射防护符合要求。〔×〕12、底片比照度越大，影像就越简单被观看和识别。〔○ 〕13、滤板的作用相当于减小管电压。〔×〕14、像质计灵敏度2％，就意味着尺寸大于透照厚度2％的缺陷均可被检出。〔×〕15、梯噪比高的胶片成像质量差。〔×〕16、对平板〔纵焊缝〕照相时，底片上各点的几何不清楚度是不同的。〔○ 〕17、黑度是影响小缺陷射线照相清楚度和比照度的共同因素。〔×〕18、在采纳双壁单影法透照环缝时，为得到较大的一次透照长度，应选择较大的焦距。〔×〕19、无水亚硫酸钠在显影液和定影液中都是起爱护剂的作用。〔○ 〕20、当X 或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。〔×〕二、单项选择〔10 题，每题2 分，共20 分。〕得分：阅卷人:1、在射线探伤中应用最多的三种射线是：〔C 〕A．X 射线、γ射线和β射线；B．α射线、β射线和γ射线；C．X 射线、γ射线和中子射线；D．X 射线、γ射线和α射线。2、放射性同位素衰变时，原子核衰变的方式通常是：〔D 〕6A．粒子放射；B．K 俘获；C．裂变；D．A 和B。3、实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是：〔C 〕A．X 或γ光量子；B．α粒子；C．电子；D．中子。4、进步灯丝温度的目的是：〔B 〕A．放射电子的能量增大；B．放射电子的数量增多；C．发出X 射线的波长较短；D．发出X 射线的波长较长。5、打算详情在射线底片上可记录最小尺寸的是：〔C 〕A．比照度；B．不清楚度；C．颗粒度；D．以上都是。6、工件中靠近射源一侧的缺陷图像，在以下哪种状况下清楚度最差：〔C 〕A．焦距增大；B．焦点尺寸减小；C．工件厚度增大；D．胶片与工件间隔 减小。7、锻件法兰对接焊缝射线照相，进步照相质量最重要的措施是：〔C 〕A．进步管电压增大宽容度B．用法梯噪比高的胶片C．用法屏蔽板削减边蚀 D．增大焦距进步小裂纹检出率8、透照板厚肯定且有余高的焊缝，散射比随有效能量的减小而：〔A 〕A．增大；B．减小；C．不变；D．不肯定。9、在哪一种状况下，底片的有效评定范围会超出搭接标记以外：〔B 〕A．环缝双壁单影透照，搭接标记放在胶片侧；B．环缝单壁外透法，搭接标记放在胶片侧；C．环缝单壁外透法，搭接标记放在射源侧；7D．环缝中心透照法，搭接标记放在胶片侧。10、射线的生物效应，与以下什么因素有关：〔D 〕A．射线的性质和能量；B．射线的照耀量；C．肌体的汲取剂量；D．以上都是。三、问答题〔4 题，每题5 分，共20 分。〕得分：阅卷人:1、什么叫半价层？它在检测中有哪些应用？答：使入射射线强度削减一半的汲取物质的厚度称为半价层，用符号T1/2 表示。射线检测中，通常利用半价层来评价射线的穿透力，表示X 射线的有效能量，标定X 射线标准源。2、试述X 射线机训练的目的和原理。答：新的或长期不用的X 射线机用法前必需进展训练，其目的是为了进步X 射线管真空度，保证仪器工作稳定。X 射线管工作时，阳极受到电子撞击温度升高，会排出气体，降低管内真空度；同时管内剩余气体电离，其质量较大的正离子会高速冲向阴极，使阴极金属和钨丝溅散，这些溅散金属能汲取气体，进步管内真空度。训练时管电压和管电流渐渐增加，可保证汲取气体过程始终占优势，汲取气体量大于排出气体量，从而进步X 射线管的真空度。3、X 射线线质的选择需要考虑哪些因素？答：选择X 射线的线质时需要考虑如下因素：1〕适当的射线能量范围主要依据试件的材质和厚度确定，以保证穿透试件为能量的下限，以保证足够的灵敏度为射线能量的上限