UII级一次性规定新.pdfVIP

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  • 2021-10-23 发布于湖北
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UT- Ⅱ超声实践操作考试一次性规定 声明:该一次性规定是为本次考核作的专用规定,不作为非本次考核外的实际工作标准。 一、 锻件: 1、 考试参考试块: CS-1 系列试块; 大平底试块( X ≥100 ㎜)。 2、 检测准备: (1)考核工件在考场有考官指定,考生须测量与记录工件的规格尺寸; (2 )探头选择(型号、频率、规格) ;探头由考场提供为单直探头,考生 须记录探头的型号、频率、规格 (3 )打开仪器输入相关数据参数或调整旋钮与获得 A 型探伤图形。 3、 扫描比例调节: (1)扫描比例选择 (要求最大声程大于仪器显示屏水平满刻度的 60% ,小 于水平满刻度的 100% ); (2 )参考反射体选择,记录参考试块的型号规格和反射体的尺寸位置; (3 )扫描速度调整与扫描比例实现。 4、 探伤灵敏度调整: (1)探伤灵敏度确定; (2 )调整方法与参考试块确定; A 、 用 CS-1 平底孔试块调整( X 、φ不同) B、 用大平底试块调整( X 不同) (3 )计算公式、步骤与结果; (4 )调整方法(注意:衰减器是否贮存) 5、 记录与报告 (1)缺陷波确定; (2 )缺陷定位; (3 )缺陷相对波高( dB )值记录 ; (4 )对被测缺陷进行定量 (有计算步骤 ); (5 )对被测缺陷按 JB/T4730-2005 标准进行评级。 二、 焊缝 1、 考试参考试块: CSK- Ⅰ(A) 试块; CSK- Ⅲ (A) 试块。 2、 检测准备与仪器调整: (1)考核工件在考场有考官指定,考生须测量与记录工件的规格尺寸; (2)探头选择(型号、频率、规格) ;探头由考场提供为单斜探头,考生 须记录探头的型号、频率、规格 (3 )打开仪器输入相关数据参数或调整旋钮与获得 A 型探伤图形。 3、 探头测定: (1)前沿(入射点)测定; (2) K 值测定。 4 、 扫描比例调整: (1)扫描比例选择选择(要求最大声程大于仪器显示屏水平满刻度的 60% ,小于水平满刻度的 100% ); (2)参考反射体选择; (3 )零位校正与扫描速度调整; (4 )扫描比例实现与准确度。 5、 距离—波幅曲线测绘: (1) 执行标准与试块选择; (2) DAC 测量方法,数据与曲线; (3) 表面耦合共补偿 4dB (一、二次); (4 ) 距离—波幅曲线灵敏度; (5) 距离—波幅曲线:数据、曲线应完整、正确。 6、 探伤灵敏度确定: 根据距离—波幅曲线及工件规格确定探伤灵敏度并记录 dB 值。 7、 工件探测选择单面、单侧( B 侧)进行 8、 测长方法: 采用 6dB 半波高度法测长和端点 6dB 测长。 9、 缺陷的记录 I 区的缺陷不计; II 区及 II 区以上的缺陷均应记录其最大反射波幅处缺陷的波幅和波高 区域、深度和水平位置、焊缝纵向位置(纵向记录起始点以板左端部为准) ; 缺陷的指示长度。 对每一个缺陷单独按 JB/T4730-2005 标准进行评级(不做综合评级) 。

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