光学三维测量系统标准.pdfVIP

VDI/VDE准则 2634 第 1 部分 德国工程师协会 (VEREIN DEUTSCHER INGENIEURE，简称 VDI ) 德 国 电气 工 程 师 协 会 (VERBANDDER ELEKTROTECHNIKELEKTRONIK INFORMATIONSTECHNIK，简称 VDE) 光学三维测量系统，逐点探测成像系统 准则内容 初步说明（） 1 适用范围 2 符号参数 3 验收检测和复检原则 4 验收检测 4.1 品质参数“长度测量误差”的定义 4.2 检测样本 4.3 测量程序 4.4 结果评估 4.5 等级评定 5 检查 5.1 测量流程 5.2 评估 5.3 检测间隔（时效）和报告 参考书目 初步说明（概述） 光学三维测量系统是一种通用的测量和测试设备。 在所有情况下， 使用者一定要确保使用中的光学三维测量系统达到所需的性能规格， 特别是最大允许测量误差不能超出要求。 就长远而言， 这只能通过统 一的验收标准和对设备的定期复检来确保。 这个职责归测量设备的制 造者和使用者共同所有。 使用价位合理的检测样本且快速简单的方法被各种样式、 自由度、 型号的光学三维测量系统的验收和复检所需要。 这个目的可以通过长 度标准和跟典型工件同样方式测量的检测样本实现。 本 VDI/VDE准则 2634 的第一部分介绍了评估逐点探测式光学三 维测量成像系统的准确性的实用的验收和复检方法。 品质参数 “长度 测量误差”的定义与 ISO 10360-2 中的定义类似。独立的探测误差测 试是不需要的， 因为这个影响已经在长度测量误差的测定中考虑进去 了。 VDI/VDE准则 2634 的第二部分介绍了用于表面探测的系统。 本准则由 VDI/VDE 协会测量与自动控制（ GMA）的“光学三维测 量”技术委员会和德国摄影测量与遥感协会的“近景摄影测量”工作 组起草。在联合委员会中， 知名用户的代表与来自大学的专门研究光 学三维测量系统领域的成员合作。 1 适用范围 本准则适用于可移动的、 灵活的光学三维测量系统， 该系统有一 个或几个起三角测量（如摄影测量）作用的成像探头（如相机） 。使 用者可以配置设备来适应特别的测量任务。 工件通过接触探测或光学 探测进行测量。 这两种情况下， 要测量的数值都是通过分析工件的离 散特征的图像或辅助设备 （测量适配器）的图像应用光学的方法记录 下来。这些特征以例如圆形反射测量标志或 LED的形式表现出来。 本 VDI/VDE 准则 2634 的第一部分介绍了用于测试逐点探测式光 学三维测量系统的方法和检测样本。这些方法同样适用于： 1. 光学三维测量系统的验收 2. 光学三维测量系统的复检（如 DIN ISO 9000 到 DIN ISO 9004 所规定的那样以检查测试设备为目的） 。 我们规定了用于验收和复检的检测样本需要满足的条件， 并且描 述了检测样本的范例。 对于本准则的目的， 检测样本是一个将被探测 的线性的、 二维的或三维的特征排列。 范例是一些用光学手段可提取 的边缘交叉点、 圆或球和用机械手段可探测的表面。 检测样本必须就 其尺寸和形状进行校准。 定义一个品质参数用来确认对测量系统精确度的评估生效。 品质 参数的允许限度，