LPDDR芯片测试装置的制作方法_1.docxVIP

PAGE PAGE 1 LPDDR芯片测试装置的制作方法 本创造涉及芯片测试领域，具体涉及一种lpddr芯片测试装置。背景技术：低功耗双重数据比率(lowpowerdoubledatarate，lpddr)，是美国jedec固态技术协会(jedecsolidstatetechnologyassociation)面对低功耗内存而制定的通信标准，其特地用于移动式电子产品。lpddr芯片在出厂前需要对其进行测试，标准规定的lpddr芯片测试主要分为三个方面，分别为：功能测试、时序参数测试及电气性能测试。lpddr芯片测试不仅包括对于独立的lpddr芯片测试，还包括对于lpddr、emcp、umcp中的lpddr芯片测试，emcp是结合emmc和lpddr封装而成，umcp是结合ufs和lpddr封装而成。目前，市面上暂不存在针对lpddr芯片的测试平台，因此亟需一种能够对lpddr芯片进行测试的lpddr芯片测试装置。技术实现要素：本创造通过提出一种lpddr芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的技术问题。具体的，本创造提出一种lpddr芯片测试装置，该lpddr芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口、用于