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衰减图及正电子发射断层图像生成装置
本申请是基于2013年10月30日提交到中国专利局、申请号为201310533167.X、发明名称为“衰减图及正电子发射断层图像生成方法和装置”的中国专利申请的分案。
技术领域
本发明涉及医疗技术领域,具体涉及一种衰减图以及正电子发射断层图像的生成装置。
背景技术
正电子发射断层成像术(Positron Emission Tomography,PET)是目前惟一采用解剖形态方式进行功能、代谢和受体显像的技术,现已广泛用于多种疾病的诊断治疗中。
PET利用了正电子发射体和正电子湮灭的特征,以量化地确定器官和细胞区域的功能。利用PET技术,在检查之前,对患者给予具有放射性同位素的合适的放射性药物标记物。随着它们衰减,放射性同位素放射出正电子,所述正电子在经过一个短的距离之后与人体组织中的负电子相互作用,发生湮灭辐射。湮灭辐射的过程中,产生两个能量相等、方向相反的γ光子,所述γ光子在患者体内产生γ射线。
以不同角度探测患者体内的γ射线分布情况,由此采集到的数据用于形成患者体内放射性同位素分布的图像,称为PET发射图像,这一图像的形成过程称为图像重建。
PET成像过程中,由于受康普顿效应、散射、偶然符合事件、死时间等衰减因素的影响,所述采集到的数据与实际情况并不一致,由此计算形成的PET发射图像失真。因此,必须采用有效措施进行校正,才能得到更真实的医学影像。
目前,通常采用计算机断层成像术(Computed Tomography,CT)对PET发射图像进行衰减校正。利用CT技术获取γ射线在人体组织中的衰减信息,根据获取到的衰减信息生成衰减图,从而利用所述衰减图对PET发射图像的进行衰减校正,以获得更均匀、清晰度更高、图像质量更好的PET图像。
然而,利用CT技术对PET发射图像进行衰减校正,需要附加应用所述CT技术的设备,增加了相应的成本以及操作上的复杂度。并且,CT技术的使用,导致患者受到了更高的辐射暴露,患者的安全性受到一定程度的影响。
发明内容
本发明实施例所解决的问题是如何在不借助CT技术的情况下为均匀模体生成衰减图。
本发明的实施例提供了一种均匀模体衰减图的生成装置,所述装置包括:
获取单元,用于确定所生成的均匀模体的PET发射图像上构成所述均匀模体的像素点,获得所述像素点的位置信息;
生成单元,用于采用所述像素点的位置信息以及所获取的所述均匀模体的衰减值,生成所述PET发射图像的衰减图。
可选地,所述获取单元包括:轮廓区获取子单元,用于确定所述PET发射图像上构成所述均匀模体的轮廓区,将所述轮廓区上以及轮廓区内的像素点作为所述PET发射图像上构成所述均匀模体的像素点。
可选地,所述轮廓区获取子单元包括:
第一轮廓区获取模块,用于获取所述PET发射图像上像素点的像素值,所述像素值包括最大像素值,将大于等于预设的第一阈值的像素值所对应的所述PET发射图像上的像素点作为第一轮廓区,所述第一阈值为小于等于所述最大像素值的像素值;
第一阈值调整模块,用于调整所述第一阈值,获得调整后的第一阈值所对应的所述第一轮廓区上以及第一轮廓区内像素点的个数与所述均匀模体上对应所述PET发射图像的位置的像素点的个数之间的差值;
第二轮廓区获取模块,用于将所述差值最小时所对应的第一轮廓区作为所述PET发射图像上构成所述均匀模体的轮廓区。
可选地,所述第一阈值调整模块用于将所述最大像素值作为所述第一阈值的初始值,减小所述第一阈值,获得第一差值和第二差值,直至所述第一差值大于所述第二差值,所述第一差值为前一次减小后的第一阈值所对应的第一轮廓区上以及第一轮廓区内像素点的个数与所述均匀模体上对应所述PET发射图像的位置的像素点的个数之间的差值,所述第二差值为当前一次减小后的第一阈值所对应的第一轮廓区上以及第一轮廓区内像素点的个数与所述均匀模体上对应所述PET发射图像的位置的像素点的个数之间的差值;
所述轮廓区获取模块用于将所述第一差值所对应的第一轮廓区作为所述PET发射图像上构成所述均匀模体的轮廓区。
可选地,所述获取单元包括:
第一获取子单元,用于获取所述PET发射图像上像素点的像素值;
第二获取子单元,用于对所述像素值从大到小作像素点个数的累加计算,得到所累加的像素点个数值;
第三获取子单元,用于当所述所累加的像素点个数值等于所述均匀模体上对应所述PET发射图像的位置的像素点个数时,将参与累加计算的像素值所对应的所述PET发射图像上的像素点作为所述PET发射图像上构成所述均匀模体的像素点。
可选地,所述第二获取子单元包括:
直方图统计模块,用于对所述像素值作直方图统计,得到直方图统计结果;
计算模块,用于根据所述直方图统计模块得到的直方图的统计结果,对所述像素值从大到小作像素点个数的累加计算。
本发明的实施例还提供了一
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