电波吸收体及电波吸收体用套件的制作方法.docxVIP

PAGE PAGE 1 电波吸收体及电波吸收体用套件的制作方法 1.本发明涉及电波汲取体及电波汲取体用套件。背景技术：2.以往，讨论了用于对以宽范围的入射角度入射的电波、各种偏振波发挥预定的汲取性能的电波汲取体。3.例如，在专利文献1中记载了一种电波汲取体，由在表面分布形成有凸部和凹部中的起码一方的反射层和沿着反射层的表面层叠的汲取层构成。就汲取层而言，在反射层的表面，沿着该反射层的表面外形以恒定的厚度形成有汲取层。4.现有技术文献5.专利文献6.专利文献1：日本特开2004－207506号公报技术实现要素：7.发明所要解决的课题8.按照专利文献1所记载的技术，需要在反射层的表面分布形成凸部和凹部中的起码一方，并且需要沿着反射层的表面外形以恒定的厚度形成汲取层。9.鉴于这样的状况，本发明提供一种电波汲取体，即使在反射电波的导电体的表面没有形成凸部和凹部中的起码一方，也有利于对以宽范围的入射角度入射的电波、各种偏振波发挥所期望的汲取性能。另外，本发明提供一种有利于构成这样的电波汲取体的电波汲取体用套件。10.用于解决课题的技术计划11.本发明提供一种电波汲取体，具备：第一电波汲取部，基于日本工业标准(jis)r 1679∶2007测定的特定频率的电波的反射汲取量在0°～80°的入射角度中的第一入射角度下成为最大；及其次电波汲取部，在0°～80°的入射角度中的其次入射角度下所述电波的反射汲取量成为最大，所述其次入射角度的大小与所述第一入射角度的大小不同，或者以所述其次入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类不同，所述第一电波汲取部和所述其次电波汲取部沿着预定的面配置。12.另外，本发明提供一种电波汲取体用套件，具备：第一构件，用于形成第一电波汲取部，在该第一电波汲取部中，基于jis r 1679∶2007测定的特定频率的电波的反射汲取量在0°～80°的入射角度中的第一入射角度下成为最大；及其次构件，用于形成其次电波汲取部，在该其次电波汲取部中，在0°～80°的入射角度中的其次入射角度下所述电波的反射汲取量成为最大，所述其次入射角度的大小与所述第一入射角度的大小不同，或者以所述其次入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类不同。13.发明效果14.上述电波汲取体即使在反射电波的导电体的表面没有形成凸部和凹部中的起码一方，也有利于对以宽范围的入射角度入射的电波、各种偏振波发挥所期望的汲取性能。附图解释15.图1a是表示本发明所涉及的电波汲取体的一例的鸟瞰图。16.图1b是沿着图1a中的ib?ib线的电波汲取体的剖视图。17.图2是表示本发明所涉及的电波汲取体用套件的一例的剖视图。18.图3是表示本发明所涉及的电波汲取体用套件的另一例的鸟瞰图。19.图4是表示本发明所涉及的电波汲取体的另一例的图。20.图5是表示本发明所涉及的电波汲取体的又一例的图。详细实施方式21.参照附图对本发明的实施方式举行解释。另外，本发明并不限定于以下的实施方式。22.1a和图1b所示，电波汲取体1a具备第一电波汲取部10和其次电波汲取部20。在第一电波汲取部10中，基于jis r 1679∶2007测定的特定频率f的电波的反射汲取量在0°～80°的入射角度中的第一入射角度θ1下成为最大。反射汲取量例如与由下述式(1)定义的反射衰减量s(db)的肯定值同义。式(1)中的p0是基于金属板的反射的接收功率(w/m2)，pi是基于试样的反射的接收功率(w/m2)。另外，反射汲取量相当于jis r 1679∶2007中的反射量的肯定值。在其次电波汲取部20中，基于jis r 1679∶2007测定的特定频率f的电波的反射量的肯定值在0°～80°的入射角度中的其次入射角度θ2下成为最大。其次入射角度θ2的大小与第一入射角度θ1的大小不同，或者以其次入射角度θ2入射的电波的偏振波的种类与以第一入射角度θ1入射的电波的偏振波的种类不同。在电波汲取体1a中，第一电波汲取部10和其次电波汲取部20沿着预定的面f配置。预定的面f可以是平面，也可以是曲面，还可以是具有高低的面，更可以是具有角部的面。在电波汲取部中，频率f的电波的反射汲取量例如用法具有200mm见方的正方形的平面外形的试样来测定。即，在本解释书中，“电波的反射汲取量”意味着将电波汲取部构成为200mm见方的正方形的平面外形时的值。23.【数学式1】[0024][0025]按照电波汲取体1a，发挥所期望的汲取性能的入射角度的范围简单变大，或者对不同种类的偏振波发挥所期望的汲取性能。此外，在