用于磁共振成像系统的涡流补偿方法发明专利.docxVIP

用于磁共振成像系统的涡流补偿方法 技术领域 本发明涉及磁共振成像技术领域，尤其涉及一种用于磁共振成像系统的涡流补偿 方法。 背景技术 在磁共振成像过程中，梯度磁场与主磁场及射频磁场共同组成磁共振成像的三大 要素。梯度磁场由梯度线圈产生，梯度线圈中的电流随时间快速切换，会在周围导体 结构中产生涡流，涡流会产生一个空间和时间上都不断变化的磁场，使成像区域内的 梯度场发生畸变，进而影响成像质量。因此需要对脉冲序列发出的梯度波形进行校正， 使得实际产生的梯度场接近于理想的波形，该过程称为“涡流补偿”。 在实际设计中，采用增加产生反向梯度场的附加线圈的设计的自屏蔽线圈，能够 减少线圈与磁体之间的相互作用，以抑制涡流的产生。但是这种方法不能完全消除在 梯度线圈周围金属中产生的涡电流，因而需要进一步对涡电流进行处理。一种通常采 用的方法是，对梯度电流进行预加重补偿。如图1所示，通过调整梯度电流的形状使 梯度磁场达到预期的输出效果。还有一种方式是通过建立涡流的数学物理模型对涡流 一阶场进行补偿。该方法的一般步骤为首先测量并采集涡流的相位信息，然后建立涡 流的数学物理模型，最后依据该数学物理模型对梯度波形进行预加重校正。测量涡流 的序列及方法各不相同，多指数函数的具体形式也各异。在申请号为201110141783.1、 发明名称为一种用于磁共振成像系统的涡流测量及补偿方法的中国专利申请文件中， 通过建立涡流的多指数模型对涡流一阶项进行补偿。设计涡流测量序列为：在X轴方 向上，对测试样品先后发出两个方向相反、幅度相同的梯度脉冲。梯度脉冲结束后， 利用90°脉冲激发样品，产生自由衰减信号，分别采集两个正负梯度之后的自由衰减 信号。然后分别在X轴正负对称的两个位置运行上述测量序列，得到两组归一化相位 差。最后根据涡流多指数模型和上述归一化相位差拟合出校正参数，将所述校正参数 输出到谱仪中实现涡流补偿。 综上所述，目前的涡流补偿方法只能对涡流一阶项进行补偿。但是，涡流高阶场 也会影响EPI等序列，Spiral、Raidal等Non-Cartesian采集的图像质量。现有的测量以 及补偿方法对涡流一阶残留场及高阶场的补偿效果不明显(现有补偿方法不考虑涡流 高阶场的补偿)。如何对涡流高阶项进行补偿以进一步提高图像质量成为目前亟待解决 的问题。 发明内容 本发明要解决的问题是提供一种用于磁共振成像系统的涡流补偿方法，以解决在 磁共振成像过程中，由于涡流残留一阶场及高阶场的存在引起重建的图像模糊、变形 的问题。 为解决上述问题，本发明的技术方案提供了一种用于磁共振成像系统的涡流补偿 方法，包括以下步骤：a.建立涡流一阶残留场及高阶场模型；b.利用磁共振成像系统， 对样品施加涡流测量序列以获得梯度磁场产生的第一涡流场，由所述第一涡流场对所 述涡流一阶残留场及高阶场模型中的校正参数进行拟合，从而得到标定的涡流一阶残 留场及高阶场模型；c.在实际测试时，利用上述标定的涡流一阶残留场及高阶场模型 对重建的图像进行校正。 进一步地，步骤a中所述涡流一阶残留场及高阶场模型为：设梯度磁场为Gr(t)， 该梯度磁场产生的涡流场为： B?eddy?(?r?,?t?)?=?B?0?eddy?(?t?)?+?rG?reddy?(?t?)?+?r?2?G?r?2?eddy?(?t?)?+?r?3?G?r?3?eddy?(?t?)?+?.?.?.?]] 其中， G?reddy?(?t?)?=?d?G?r?(?t?)?dt???g?1?r?(?t?)?,?]]?G?r?2?eddy?(?t?)?=?d?G?r?(?t?)?dt???g?2?r?(?t?)?,?]]?G?r?3?eddy?(?t?)?=?d?G?r?(?t?)?dt???g?3?r?(?t?)?,?·?·?·?]] g?ir?(?t?)?=?Σ?l?=?0?N?-?1?a?il?e?-?t?/?τ?il?t?≥?0?0?t??0?]] r可以表示二维空间的坐标(x，y)，也可以表示三维空间的坐标(x，y，z)，ail为 幅度常数，τil为时间常数。 进一步地，步骤b中所述利用磁共振成像系统，对样品施加涡流测量序列以获得 梯度磁场产生的第一涡流场，包括以下步骤： b1.对所述样品施加第一涡流测量序列，所述第一涡流测量序列在相位编码方向 先后施加第一梯度脉冲和第二梯度脉冲，采集所述样品产生的第一K空间数 据，将所述第一K空间数据变换至图像域，以获得第一梯度脉冲和第二梯度 脉冲产生的编码相位； b2.对所述样品施加第二涡流测量序列，所述第二涡流测量序列在相位编码方向 施加第一梯度脉冲，采集所述样品产生的第二K空间数据，将所述第二K空 间数据变换至图像域，以获得第一梯度脉冲产生的编码相位； b3.由所述第一梯度脉冲和第二梯度脉冲产