ICT测试盲点问题和PCB测试点设计.pdfVIP

ICT 测试盲点问题 不可测零件或不稳定测试程序 〔电容〕： 1.小电容并联大电容：C1 ＝1nf ， C2 ＝1uf （相差10 倍以上）， C1 《《C2 ， C1 无法准确测量。 2. 电容并联电感：需用交流电信号以相位分离法检测，但有误差，不易测出。 ( 电容并联小电阻) ： 小电容300PF：标准值易偏高，较受旁路干扰，标准值易变更、不稳。 〔电阻〕： 电阻并联电容：因为电容之充放电效应,测量值轿标准值偏低，延迟时间不可超 过500 M Sec 重复测试不可超过5 次，测试较不稳。 电阻并联电阻：测量值Rx ＝R1*R2 ／(R1+R2) ＝须修改标准值，并联电阻若有误 差值，不易测试出。 电阻并联电感：在直流信号源下是近似短路，所以无法被准确测出。 电阻并联跳线：所有的电流皆流经跳线，所以电阻无法被测出。 小电阻并联大电阻：大电阻无法量测。（相差20 倍以上） 〔二极管〕： 二极管与电感并联：二极管无法准确测量。 二极管与跳线或保险丝并联：二极管无法准确测量。 齐纳二极管( Zener Diode )：量测电压为它的崩溃电压，超过系统量测范围。 二极管并联二极管：无法测量,ADSYS 可以用DR Mode 测试,可以准确量测。 〔其它〕： 振荡器(XTAL)功能是否正常。（振荡器是以小电容方式作量测,4MHz 以下可以量 测漏件） IC 之保护二极管并联本身或其它IC 之保护二极管，致IC 脚空焊或折脚无法量 测。 单端点之线路断线无法测试。 解 决 方 案 问 题 点 类 别 系 新 他牌 电解电容极性 可测率100%，不漏判 可测率低于50%，会漏判 测试频率达2MHz ，盲点范围测试频率仅1MHz，盲点范围 较小 较大 电容并联电感 (测Z 时，测量信号避开谐振(测Z 时，测量信号避开谐振 电 容 点) 点) 2MHz 高频信号源较易测试 小电容300p 除非实际线路构成测试盲点，仅1MHz 信号源，较难测试 否则测试上不成问题 小电容并联大电容 电路原理盲点 电路原理盲点 测Z 有机会，并联大电容较花 电阻并联电容 Ｘ 时间 测等值电阻，要靠测试精度抓 电 阻 小电阻并联大电阻 大电阻问题，小电阻测得到没Ｘ 问题 电阻并联电感 电路原理盲点 电路原理盲点 电阻并联跳线 电路原理盲点 电路原理盲点 二极管与电感并联 电路原理盲点 电路原理盲点 二极管与跳线或保险丝 电路原理盲点 电路原理盲点 并联 齐纳二极管( Zene 二 极 体 电路原理盲点