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部門名稱:TV SMT課;課程大綱;直方圖;;名詞解釋: 次數分配: 將許多的複雜數據依其差異的幅度分成若干組,在各組內列入測定 值得出現次數,即為次數分配. 相對次數: 在各組出現的次數除以全部之次數. 累積次數: 為自次數分配的測定值較小的一端將其次數累積計算,則成為 累積次數 4. 全距(R) : 在所有數據中的最大值和最小值的差 5. 組距(h) : 全距 / 組數 6. a. 算出平均數: x bar; b. 幾何平均數 ; c.調和平均數 7. 中位數(X ~) 8. 眾數 9. 組中點: 一組數據中最大值和最小值或(上組界+下組界) / 2;直方圖的作法;直方圖的作法;0.661;實例說明;實例說明;次數分配表;直方圖常見型態及說明;直方圖常見型態及說明;直方圖常見型態及說明;直方圖常見型態及說明;直方圖常見型態及說明;直方圖常見型態及說明;直方圖的應用;(4) 籍以訂定規格界限 ;群 體：N 規格中心直：μ 平 均 數：X 〈集中趨勢〉 標準偏差：? 〈離散趨勢〉 被涵蓋在特定範圍的機率 ;特性要因圖;大要因;為了使變異的表示簡化，通常分成下列二種： ?機遇原因的變異 制程中變異因素是在統計的管制狀態下『受控』。 隨著時間的推移，具有穩定的且可重複的分佈 制程中的許多『極差(全距)』的原因。 ?非機遇原因的變異 制程中不常發生，但造成制程變異的原因。 所造成之分佈與時間的關係，是不穩定且不無法 預期的。;大量之微小原因所引起 原料在一定範圍內之微小變異 機械之微小振動 儀器測定時，不十分精確之做法 依據作業標準執行作業的變化 實際上，要除去制程上之機遇原因，是件非常不經濟之處置;散布举例;因為生產制程中每一件成品都不同，因此如果製程很穩定，則生產產品的品質特性的分布將形成一種固定形狀，稱為分佈。一般分佈有下列之不同情形：;;非機遇原因的變異;系統措施 → 改善機遇原因;制程控制與制程能力;;;制程控制與制程能力矩陣;『1』類：理想的情況 X → μ，σ 小 『2』類：受控制程，但存在『機遇原因』造成過大的變異，必須減少『極差(全距)』。 X → ??，σ 大 『3』類：制程能力可接受，但為不受控制程，必須識別『極差(全距)』的非機遇原因，並消除它。 X → μ，σ 小 『 4』類：不受控，且制程能力又不可接受，必須減少『極差(全距)』的非機遇原因和機遇原因。　 X → μ，σ 大;制程改善循環;1.分析制程： 本制程應該做什麼？ ● 會出現什麼問題？ ─本制程會有哪些變化？ ─我們已經知道本制程的什麼極差(全距)？ ─哪些參數受極差(全距)的影響最大？ ● 本制程正在做些什麼？ ─本制程是否在生產廢品及需要返工的產品？ ─本制程生產的產品是否處於受控狀態？ ─本制程是否有能力？ ─本制程是否可靠？;2.維護(控制)制程： ● 制程是動態的，並且會隨時間而變化。 ● 監控制程的能力指數 ● 查出『非機遇原因』的變異，並採取有效的措施 3.改善制程： ● 使制程穩定，並以維持制程的能力指數 ● 充分理解『機遇原因』造成的變異 ● 減少『機遇原因』造成變異的發生;制程能力分析;Cpk / Ppk;制程能力調查步驟;制程能力調查的方式;圖示法制程能力的初步判定;數值法制程能力分析;Ca值的等級判定 Ca值是正值---實績平均值較規格中心值偏高 Ca值是負值---實績平均值較規格中心值偏低 Ca值愈小,品質愈佳。依Ca值大小一般分為四級：;(3)Ca等級的說明;製程精密度Cp(Capability of Precision) 衡量自產品中所獲得產品資料的6個估計實績標準差(σ),與規格公差(T)其間相差的程度,是期望製程中生產的每個產品以規格中心值為目標，其變異寬度愈小愈好，換言之，即在衡量規格公差範圍與製程變異寬度兩者間相差程度 Cp之計算方式如下：;Cp值的等級判定 Cp值愈大---規格公差(T)大於估計實績標準差(?)愈多， 即表示製程的變異寬度遠小於規格公差 Cp值愈大,品質愈佳。依Cp值大小一般分為五級：;(3)Cp等級之說明;制程能