2021年X荧光分析实验报告——南京大学.pdf

精品 pdf资料 欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - 南京大学物理系实验报告 题目： X 荧光分析 姓名：黄健 学号： 141120038 日期：2017.6 一．实验目的 1. 了解能量色散 X 荧光分析的原理，仪器构成和基本测量分析方法。 2. 验证莫赛莱定律，并从实验推出屏蔽常数。 3. 研究对多道分析器的定标， 以及利用 X 荧光分析测量未知样品成分及相对含量 的方法。 二．实验原理 以一定能量的光子，电子，质子，α粒子或其他离子轰击样品，将物质原子中的 内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁， 填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征 X 射线形式释放， 或能量转移给另一个轨道电子， 使该电子发射出来， 即俄歇电子 发射。另外还可能存在几率较低，主量子数相同，角量子数不同，亚壳层间电子 的 Coster-Kronig 非辐射跃迁。测出特征 X 射先能谱，即可确定所测样品中元素种 类和含量。 当原子中 K 层电子被击出后， L 层或 M 层的电子填补 K 层电子空位，同时以一 定几率发射特征 X 射线。 L→K产生的 X 射线叫 Kα系，L 层有三个子壳层，允 许跃迁使 Kα系有两条谱线 Kα1和 Kα2。M→K 产生的 X 射线叫 Kβ系，M 层有 五个子壳层，允许跃迁使 Kβ有 Kβ1,K β3,K β5三条谱线。当原子中 L 层电子被 击出后，M→L 跃迁产生的 X 射线叫 L 系。图 1 是特征 X 射线与电子跃迁能级示 意图。 学习资料 精品 第 1 页，共 9 页 - - - - - - - - - - - - - - - - - 精品 pdf资料 欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - 特征 X 射线的能量为两壳层电子结合能之差，即 所有元素的 K ，L 系特征 X射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。 X荧光分析中激发 X射线的方式一般有三种：（ 1）用质子、 α粒子或其他离子激 发；（ 2 ）用电子激发；（ 3 ）用X射线或低能 γ射线激发。 用质子激发特征 X射线的分析技术（常记为 PIXE）是几种激发方式中分析灵敏度 最高的，相对灵敏度达 10-6 ~10 -7 ??/??，绝对灵敏度可达 10-9 ~10 -16 ??，而且可 以将质子束聚焦、扫描，对样品作微区分析。 用电子束激发（常记为