材料科学电子衍射.pptxVIP

1;电子衍射的优点是可以原位同时得到微观形貌和结构信息，并能进行对照分析。电子显微镜物镜背焦面上的衍射像常称为电子衍射花样。电子衍射作为一种独特的结构分析方法，在材料科学中得到广泛应用，主要有以下三个方面： （1）物相分析和结构分析； （2）确定晶体位向； （3）确定晶体缺陷的结构及其晶体学特征。;8-1电子衍射和X射线衍射的比较——共同点;多晶衍射花样;La3Cu2VO9单晶体的电子衍射图;非晶态材料电子衍射图的特征;电子衍射和X射线衍射不同点;第三，因为电子波的波长短，采用厄瓦德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角θ较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向，给分析带来不少方便。 第四，电子衍射谱强度正比于原子序数，X射线衍射强度正比于原子序数的平方，故电子衍射有助于寻找轻原子的位置。 最后，原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级），故电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。电子衍射束强度几乎与透射束相当，两者相互作用使衍射花样特别是强度分析变得复杂，不能象X射线那样通过强度来测定结构。; 由布拉格方程 2dhklsinθ＝λ 因为 所以 这说明，对于给定的晶体样品，只有当入射波长足够短时，才能产生衍射。而对于电镜的照明光源——高能电子束来说，比X射线更容易满足。通常的透射电镜的加速电压100~200kv，即电子波的波长为10-2~10-3nm数量级，而常见晶体的晶面间距为100~10-1nm数量级，于是 这表明，电子衍射的衍射角总是非常小的，这也是它的花样特征之所以区别X射线的主要原因。;8-2 偏离矢量与倒易点阵扩展 ;;但是在电子衍射操作时，即使晶带轴和电子束的轴线严格保持重合（即对称入射）时，仍可使g矢量端点不在厄瓦尔德球面上的晶面产生衍射，即入射束与晶面的夹角和精确的布拉格角θB（θB=sin-1 ）存在某偏差Δθ时，衍射强度变弱但不一定为零，此时衍射方向的变化并不明显。 ;对于电子显微镜中经常遇到的样品，薄片晶体的倒易阵点拉长为倒易“杆”，棒状晶体为倒易“盘”，细小颗粒晶体则为倒易“球”，如图所示。;倒易点阵扩展;倒易点阵扩展;8-3 电子衍射基本公式 ;电子衍射基本公式;选区衍射 ;选区误差;8-4 单晶电子衍射花样;标定电子衍射图中各斑点的指数hkl及晶带轴指数[uvw]。 电子衍射图的标定比较复杂，可先利用衍射图上的信息（斑点距离、分布及强度等）帮助判断待晶体可能所属晶系、晶带轴指数。 例如斑点呈正方形，仅可能是立方晶系、四方晶系；正六角形的斑点，则属于立方晶系、六方晶系。 熟练掌握晶体学和衍射学理论知识：收集有关材料化学成分、处理工艺以及其它分析手段提供的资料，可帮助解决衍射花样标定的问题。 ;单晶电子衍射花样的标定;标定前的预先缩小范围;通常电子衍射图的标定过程可分为下列三种情况： 1）已知晶体（晶系、点阵类型）可以尝试标定。 2）晶体虽未知，但根据研究对象可能确定一个范围。就在这些晶体中进行尝试标定。 3）晶体点阵完全未知，是新晶体。此时要通过标定衍射图，来确定该晶体的结构及其参数。所用方法较复杂，可参阅电子衍射方面的专著。 ;在着手标定前，还有几点事项要引起注意： 1）认真制备样品，薄区要多，表面没有氧化。 2）正确操作电镜，如合轴、选区衍射操作等。 3）校正仪器常数。 4）要在底片上测量距离和角度。长度测量误差小于，（或相对误差小于3—5%），角度测量误差±0.2°，尚需注意底片药面是朝上放置的。 ;已知样品晶体结构和相机常数：;;未知晶体结构的标定1（尝试是否为立方）;未知晶体结构的标定2;标准花样对照法 ;8-5多晶电子衍射图标定 ;d值比较法 ;R2比值规律对比法 ;例:标定TiC多晶电子衍射图;8-6复杂电子衍射花样 1__高阶劳厄斑点 ;第35页/共47页;高阶劳厄斑点;复杂电子衍射花样 2__超点阵斑点 ;复杂电子衍射花样 2__超点阵斑点;复杂电子衍射花样 3__二次衍射斑点 ;复杂电子衍射花样 4__菊池衍射花样 ;第41页/共47页;复杂电子衍射花样 4__菊池衍射花样;复杂电子衍射花样 4__菊池衍射花样;总结;总结;作业：P164,1,9