X荧光光谱法(XRF)解析.pptVIP

X荧光光谱法(XRF) 利用能量足够高的X射线(或电子)照射试样,激发出来的光叫X射线荧光.利用分光计分析X射线荧光光谱,鉴定样品的化学成分称为X射线荧光分析. 第一页，编辑于星期一：二十二点 四十四分。 X射线荧光分析原理 当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱,特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关,而与激发X射线的能量无关.谱线的强度和元素含量的多少有关,所以测定谱线的波长,就可知道试样中包含什么元素,测定谱线的强度,就可知道该元素的含量. 第二页，编辑于星期一：二十二点 四十四分。 X射线荧光的种类 入射的X射线具有相对大的能量,该能量可以轰击出元素原子内层中的电子. K层空缺时,电子由L层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为 线;从M层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为 线.同理L系X射线也具有 等特征X射线.X射线荧光光谱法多采用K系L系荧光,其他线系较少采用. 第三页，编辑于星期一：二十二点 四十四分。 XRF之特点 谱线简单 分析灵敏度高:大多数元素检出限达 分析元素范围宽:B~U(5~92) 定量分析线性范围宽:从常量至微量 分析方法的精密度高:误差一般在5%以内 制样简单:固体,粉末,液体,无损分析 分析速度快 第四页，编辑于星期一：二十二点 四十四分。 X射线荧光光谱仪器种类 波