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PAGE PAGE 1 测试设备和测试方法与流程 本藏匿实施例涉及一种测试系统和测试办法。背景技术：随着大数据和人工智能应用的不断普及，面对存算一体的存储器成为产业界和学术界竞相讨论的目标，力求向着高性能，低成本，低能耗和高速的方向进展。技术实现要素：本藏匿起码一实施例提供一种测试设备，该测试设备包括：检测接口装置，配置为容纳待测试半导体器件且包括多个检测接口，多个检测接口分离用于与待测试半导体器件的多个端子衔接；信号提供装置，配置为通过检测接口装置的多个检测接口中起码一个向待测试半导体器件提供具有可调的物理特征的起码一个脉冲信号；信号采集装置，配置为采集起码一个脉冲信号；状态猎取装置，配置为在检测接口装置中两个检测接口之间猎取待测试半导体器件的实时状态，待测试半导体器件的实时状态取决于起码一个脉冲信号的物理特征；预处理装置，配置为用于通过检测接口装置中起码两个检测接口对待测试半导体器件执行起码一个预处理操作；以及控制器，配置为响应于起码一个脉冲信号的物理特征和实时状态，调节起码一个脉冲信号的物理特征，并且将调节后的起码一个脉冲信号提供应待测试半导体器件重新猎取实时状态，以获得起码一个脉冲信号的物理特征与待测试半导体器件的实时状态二者的关系。本藏匿起码一实施例还提供一种测试办法，该测试办法包括：提供待测试半导体器件；用法预处理装置对待测试半导体器件执行起码一个预处理操作；用法信号提供装置向待测试半导体器件提供具有可调的物理特征的起码一个脉冲信号；用法信号采集装置采集起码一个脉冲信号；用法状态猎取装置从待测试半导体器件猎取待测试半导体器件的实时状态，待测试半导体器件的实时状态取决于起码一个脉冲信号的物理特征；以及响应于起码一个脉冲信号的物理特征和实时状态，调节起码一个脉冲信号的物理特征，并且将调节后的起码一个脉冲信号提供应待测试半导体器件重新猎取实时状态，以获得起码一个脉冲信号的物理特征与待测试半导体器件的实时状态二者的关系。附图解释为了更清晰地解释本藏匿实施例的技术计划，下面将对实施例的附图作容易地介绍，自不待言地，下面描述中的附图仅仅涉及本藏匿的一些实施例，而非对本藏匿的限制。图1示出了本藏匿起码一实施例提供的一种测试设备的框图；图2示出了本藏匿起码一实施例提供的另一种测试设备的框图；图3示出了本藏匿起码一实施例提供的又一种测试设备的框图；图4示出了本藏匿起码一实施例提供的再一种测试设备的框图；图5示出了本藏匿起码以详细实施例提供的一种待测试的半导体器件的暗示图；图6示出了本藏匿起码以详细实施例提供的一种测试设备的框图；图7示出了本藏匿起码一实施例提供的一种测试办法的流程图；图8示出了本藏匿起码一实施例提供的另一种测试办法的流程图；图9示出了本藏匿起码一实施例提供的又一种测试办法的流程图；图10示出了本藏匿起码一实施例提供的再一种测试办法的流程图；图11示出了本藏匿起码一实施例提供的一种针对三端半导体的测试办法的流程图；图12示出了本藏匿起码一实施例提供的一种猎取实时状态办法的流程图；以及图13示出了起码以详细实施例提供的一种测试办法的流程图。详细实施例为使本藏匿实施例的目的、技术计划和优点越发清晰，下面将结合本藏匿实施例的附图，对本藏匿实施例的技术计划举行清晰、完整地描述。明显，所描述的实施例是本藏匿的一部分实施例，而不是所有的实施例。基于所描述的本藏匿的实施例，本事域一般技术人员在无需制造性劳动的前提下所获得的全部其他实施例，都属于本藏匿庇护的范围。除非另外定义，本藏匿用法的技术术语或者科学术语应该为本藏匿所属领域内具有普通技能的人士所理解的通常意义。本藏匿中用法的“第一”、“其次”以及类似的词语并不表示任何挨次、数量或者重要性，而只是用来区别不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在起码一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指浮现该词前面的元件或者物件涵盖浮现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排解其他元件或者物件。“耦接”、“衔接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的衔接，而是可以包括电性的衔接，不管是挺直的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的肯定位置转变后，则该相对位置关系也可能相应地转变。与传统的非易失性存储器相比，阻变存储器具有物理结构容易，操作电压低，可多比特存储和循环擦写特性优良等优点，从而成为实现大数据和人工智能的最佳硬件载体之一。另外，阻变存储器还具有阻变速度快的特征，与擦写速度为微秒数量级的闪速存储器相比，阻变存储器阵列的典型速度可达10ns～50ns，更易于实现高速数据拜访和计算，从而提高存储效率。发明