测试硬盘数据保存能力的测试箱的制作方法.docxVIP

测试硬盘数据保存能力的测试箱的制作方法.docx

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PAGE PAGE 1 测试硬盘数据保存能力的测试箱的制作方法 本有用新型涉及电子产品技术领域,详细为测试硬盘数据保存能力的测试箱。 背景技术: 硬盘、u盘等存储产品都是通过内部的存储颗粒对数据举行保存的,通常这类产品都是在正常温度环境下用法的,然而在某些特别状况下,这些产品的不行避开的会处于高温环境中。对于产品内部的存储颗粒,环境的温度不同,其工作状态存在一定的差异,由于存储颗粒是通过电子来存储数据的,高温下电子越发的活跃,因此,需要测试存储颗粒在高温环境下对数据的保存能力,通常是将硬盘放置在测试箱内部,将测试箱内部温度提高以举行测试,而在测试结束后,因为测试箱内部温度过高需要采纳夹持工具将内部的硬盘取出,但这种办法会由于在利用夹持人工夹取硬盘时可能由于操作不当而导致人手被烫伤的问题,为此需要测试硬盘数据保存能力的测试箱。 技术实现要素: (一)解决的技术问题 针对现有技术的不足,本有用新型提供了测试硬盘数据保存能力的测试箱,具备便于取出硬盘,削减灰尘进入等优点,解决了采纳夹持工具将内部的硬盘取出时,因为在利用夹持人工夹取硬盘时可能由于操作不当而导致人手被烫伤的问题。 (二)技术计划 为实现上述目的,本有用新型提供如下技术计划:测试硬盘数据保存能力的测试箱,包括箱体,所述箱体的下壁面四角位置均固定安装有支撑柱,箱体的前壁面上端位置设置有温度控制器,箱体的前壁面开设有放置槽,箱体的左右两侧壁面上均设置有盖门,放置槽的内壁面底部左右两端位置均开设有滑槽,滑槽为t形槽,滑槽的内部中空区域连通的箱体的前壁面和箱体的内部前壁面,滑槽的内部设置有滑块,滑块的上壁面固定安装有承载板,承载板的前壁面左右两侧位置均开设有透槽,承载板的内部左右两侧壁面逼近后端位置均固定安装有拉簧,左右两侧的盖门互相逼近的一侧壁面逼近前端下侧位置均开设有固定槽,固定槽的内壁面底部中间位置固定安装有转轴,固定槽的内部设置有推杆,推杆的上壁面逼近前端位置开设有转槽,箱体的左右壁面逼近下端位置均开设有风孔,风孔的内圆壁面互相远离的一侧位置均开设有旋孔,风孔的内部设置有凸壳,凸壳的外圆壁面互相远离的一侧位置均固定安装有旋杆,旋杆向来延长到旋孔的内部且与旋孔套接在一起,凸壳的外圆壁面互相远离的一侧位置均开设有流孔,凸壳的外圆壁面设置有限位块。 优选的,所述滑块为t形结构,滑块与滑槽滑动衔接在一起,滑块向来延长到箱体的内部。 优选的,所述转轴为圆柱形结构,转轴向来延长到固定槽的内部上壁面且与固定槽的内部上壁面固定衔接在一起,转轴连通了转槽的内部且与转槽套接在一起。 优选的,所述凸壳为球形中空结构。 优选的,所述限位块为圆柱形结构,每个凸壳的外圆壁面固定安装有四个限位块且每两个限位块为一组,每组的两个限位块分离位于每个凸壳外圆壁面互相远离的一侧位置。 优选的,所述推杆为弧形结构,推杆连通了透槽的内部且向来延长到承载板的内部,推杆向承载板内部延长的一侧壁面与拉簧固定衔接在一起。 (三)有益效果 与现有技术相比,本有用新型提供了测试硬盘数据保存能力的测试箱,具备以下有益效果: 1、该测试硬盘数据保存能力的测试箱,通过将待测试的硬盘放置于承载板上,硬盘在箱体内部举行测试,在测试结束后,拉动两侧的盖门,盖门被拉动时,推杆随盖门一起被拉动,承载板上的滑块滑动衔接在滑槽的内部,推杆被拉动时,与推杆相连的拉簧被拉伸带动承载板向外移动,以带动放置在承载板上的硬盘移动至箱体外侧,从而便于取出测试的硬盘以避开人工用工具取出硬盘时可能被烫伤的问题。 2、该测试硬盘数据保存能力的测试箱,通过在测试结束后,转动左右两侧的凸壳,转动凸壳至凸壳上一侧位置的流孔朝向箱体的外侧,另一侧位置的流孔朝向箱体的内部,以使箱体的内部空气与外界互相连通,从而便于箱体的内部空气流向外界以达到散热的效果,在不需要散热时转动凸壳至流孔与风孔的内圆壁面互相对应,从而避开了灰尘通过凸壳上的流孔进入箱体内部。 3、该测试硬盘数据保存能力的测试箱,通过在凸壳上设置有限位块,限位块是可以防滑的橡胶材料,限位块可抵在风孔的内圆壁面上,从而对凸壳起到限位作用以防止凸壳发生晃动。 附图解释 图1为本有用新型结构立体拆分暗示图; 图2为图1中a的局部暗示图; 图3为图1中b的局部暗示图; 图4为本有用新型结构中承载板的内部结构暗示图。 图中:1箱体、2支撑柱、3温度控制器、4放置槽、5滑槽、6盖门、7滑块、8承载板、9透槽、10风孔、11固定槽、12转轴、13推杆、14转槽、15旋孔、16凸壳、17旋杆、18流孔、19限位块、20拉簧。 详细实施方式 下面将结合本有用新型实施例中的附图,对本有用新型实施例中的技术计划举行清晰、完整地描述,明显,所描述的实施例仅仅是本有用新型一部分实施例,而不是所有的实施例。

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