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Teacher:Jacky lang ; 1-1 SPC(Statistical Process Control)之基本假設 只有穩定且在管制狀態的製程, 才能生產出合乎品質要求的產品, 所以SPC是在生產過程中檢查產品品質並辨認其形成不良品的原 因. 1-2 SPC之目標 管制製程, 區分變異, 並在不良品生產前, 將問題予以解決. 1-3 品質變異的机遇原因與非机遇原因 机遇原因: 又稱正常原因. 是原料, 機械, 人員, 方法在標準範圍內的變化, 因 係由微小原因所引起,引起之變化因而相當微小. 是一種正常變化, 其變化是 不可避免的. 非机遇原因﹕可避免之原因﹑人為原因﹑特殊原因﹑不正常原因, 異常原因﹑ 局部原因等等﹒;1-4 管制界限之選擇 1-4-1 若机遇原因之因素所造成的成本高﹐可考慮使用較寬之管制界限﹐反之﹐采取較窄之管制界限﹒ 1-4-2 若生產之不良產品其輸出后果之成本很大﹐則非机遇原因較為重要﹐故需考慮使用較窄之管制圖﹒ 1-4-3 若机遇與非机遇原因均為重要﹐則可采用較寬之管制界限﹐惟減少非机遇原因冒險應考慮抽樣較多的樣本﹒ 1-4-4 如按以往經驗超出管制界限情形很多時﹐則使用較窄之管制界限為佳﹒反之﹐則使用較寬之管制界限﹒;管制圖是根據統計的常態分配的三個標準差而來, 中間(Center line: CL) 一條為平均值的中心實線. 上(Upper control limit: UCL)下(Low control limit: LCL)二條是允許變異範圍的水平虛線.;2.統計製程管制架構與步驟;決定產品特性;4.管制圖;管制圖的實施循環 從上圖可以看出﹐管制圖的實施步驟是﹕抽取樣本﹐進行檢驗﹐將檢驗的結果畫制于管制圖上﹐再從管制圖來判斷﹐工程是否正常﹐如為不正常即應采取必要的矯正措施﹒;4.管制圖;4.管制圖; （二）管制圖分類 管制圖分為計量值管制圖和計數值管制圖兩种﹒ 1﹑計量值管制圖 用于產品特性可測量的﹐如長度﹑重量﹑面積﹑溫度﹑時間等連續性數值的數據有﹕ X －R:平均值與全距管制圖 X(中) －R:中位數與全距管制圖 X-Rm:個別值與全距移動管制圖 X-S:平均值與標准差管制圖 其中以X-R 使用最普遍. . 中心線 CL = X CL=R 上限 (UCL)= X+A2 R UCL=D4R 下限 (LCL)= X-A2 R LCL= D3 R ﹑;2﹑計數值管制圖 用于非可量化的產品特性﹐如不良數﹑缺點數等間斷性數據﹒有﹕ P-Chart:不良率管制圖 Pn-Chart:不良數管制圖 C- Chart: 缺點數管制圖 U- Chart: 單位缺點數管制圖 其中以P-Chart應用最廣. 初學管制圖,可以先從 X -R圖及P-Chart的使用開始,等熟練以后再視需要使用其他的圖.;;依管制圖之用途分類 解析用管制圖:此种管制圖先有數据,后有管制界限. 決定方針用/制程解析用/制程能力研究用/制程管制之准備 管制用管制圖:先有管制界限,后有數据. 用于控制制程之品質. ;如何選用合适的管制圖;X主要管制組間(不同組)的平均值變化. R 主要管制各組內(同一組樣品)的范圍變化. .管制界限的計算. X圖 X=x1+x2+…xn/n X= x1+x 2+…x k/K 中心線（CL）＝X 上限（UCL）＝ X+A2 R 下限(LCL)= X-A2 R ;X-R管制圖;X－R管制圖抽樣參考表;X-R管制圖; (4）記入數據表內（入圖）﹒ 5）計算每組平均值X﹒ 6）計算每組全距R﹒ 7）計算總平均值 X﹒ 8）計算每組全距平均值 R﹒ 9）計算管制界限值. 10)例子 ;X-R管制圖; P管制圖（不良率管制圖）的做法﹕ （1）先收集近期內的產品﹐分組算出不良率﹒ P＝pi/ni=不良個數／總檢查數 （2）平均不良率P ＝ ΣPn/ΣN＝ 總不良數/總檢查數 (3)計算管制線 中心線CL=P 上管制限UCL=P+3 P(1-P)/n 下管制限LCL=P-3 P(1-P)/n; ; （1）收集10月的產品﹐算出平均不良率﹒ 平均不良率P ＝ 0.2% (3)計算管制線 中心線CL=P=0.2% 上管制限UCL=P+3 P(1-P)/n=0.42% 下管制限LCL=P-3 P(1-P)/n=0% ; ; ; ;异常之檢定原則; ; ;計數值管制圖(P cha