一种横向磁化矢量衰减时间常数的校正测量方法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系统发明专利 (1).pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112462311 B (45)授权公告日 2021.06.15 (21)申请号 202011242388.8 G01R 33/48 (2006.01) G01R 33/56 (2006.01) (22)申请日 2020.11.09 审查员 魏程程 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 112462311 A (43)申请公布日 2021.03.09 (73)专利权人 无锡鸣石峻致医疗科技有限公司 地址 214000 江苏省无锡市新吴区弘毅路8 号金帛座705室 (72)发明人 潘子异　张洁莹　王伟谦　吴子岳　 叶洋　 (74)专利代理机构 成都顶峰专利事务所(普通 合伙) 51224 代理人 杨国瑞 (51)Int.Cl. G01R 33/46 (2006.01) 权利要求书3页 说明书12页 附图7页 (54)发明名称 一种横向磁化矢量衰减时间常数的校正测 量方法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系 统 (57)摘要 本发明涉及核磁共振成像技术领域，公开了 一种横向磁化矢量衰减时间常数的校正测量方 法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系统，可 以在具有极不均匀的磁场或者是无法实现极短 的回波时间的核磁共振系统中，通过获取的多个 施加不同b值的SE‑CPMG序列采集的回波信号，先 拟合出ADC‑T2二维图谱，然后对横向磁化矢量衰 减时间常数T2做校正，如此可避免由于扩散造成 的T2测量值偏小问题。此外，可进一步基于校正 的T2测量值获得较为准确的ADC‑T2二维图谱，确 B 保T2值测量不受回波时间和分子扩散的影响，且 1 对系统要求低，可以降低系统成本。 1 3 2 6 4 2 1 1 N C CN 112462311 B 权　利　要　求　书 1/3页 1.一种横向磁化矢量衰减时间常数的校正测量方法，其特征在于，包括： 获取基于SE‑CPMG核磁共振序列采集得到的多组回波信号，其中，所述SE‑CPMG核磁共 振序列中的SE部分用于进行扩散梯度编码且针对各组回波信号施加不同的扩散敏感系数b 值，所述SE‑CPMG核磁共振序列中的CPMG部分用于进行各组回波信号的读出； 根据所述多组回波信号，对ADC‑T2二维图谱进行拟合，得到表观扩散系数和横向磁化 矢量衰减时间常数的拟合值，其中，所述ADC‑T2二维图谱是指变量包含有表观扩散系数和 横向磁化矢量衰减时间常数的二维图； 按照如下公式计算得到横向磁化矢量衰减时间常数的校正值T2‑corr： 式中，T 表示横向磁化矢量衰减时间常数的拟合值，D 表示表观扩散系数的拟合 2‑fit fit 值，γ表示氢原子核的磁旋比，G 表示在磁共振系统中磁体的天然恒定梯度磁场大小，t 表 0 ED 示在单组回波信号采集过程中首个回波信号的中心点时刻至次个回波信号的中心点时刻 的时长。 3 2.如权